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sapphire D-10测试系统销往欧洲领先的测试
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试实验室  测试系统  欧洲  混合信号  多媒体  高电压  芯片  视频 
描述:系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台SapphireTM D-10测试系统。该测试实验室将使用这些先进的测试系统来测试多媒体音,视频数字和混合
具有6.4G速度测试能力的Sapphire S测试系统
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:自动测试设备。D-6436是一款高性能高通道密度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gb·ps的高速芯片。Sun公司将把该系统使用于其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一
端对端6.4Gbps高速总线解决方案提供业界领先的性
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 高速总线  端对端  成本优势  测试选件  产品系列  有限公司  芯片测试  成本优化  验证分析 
描述:。[第一段]
博大关怀 深耕不息——访尼起重机设备(上海)有限公司总
作者:暂无 来源:现代制造 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 上海市场  有限公司  总经理  起重机  设备  深耕  物流行业  销售  品牌 
描述:何总的继往开来绝非沿着别人的足迹,而是凭借其在超过20年的摸打滚拼,凭借其2001年初涉上海市场,短短几年,销售连年攀升,不仅令物流行业谙熟“尼”品牌,外行也啧啧称奇、无人不晓。
为不断降低测试成本而创新——访公司中国区总经理陈绪先生
作者:胡芃  来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  总经理  测试成本  中国  创新 
描述:为不断降低测试成本而创新——访公司中国区总经理陈绪先生
欧洲领先的测试实验室Microtec购买多台Sapp
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:频数字和混合信号芯片,以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]
服务测试领域 满足客户需求:访系统公司首席执行官Da
作者:Dave Ranhoff  来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统公司  首席执行官  服务测试  客户需求  测试解决方案  全球范围  技术人员  设备制造商  公司  工业设计 
描述:系统公司首席执行官Dave Ranhoff先生。[第一段]
最新推出Sapphire
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试解决方案  有限公司  半导体材料  半导体工业  美国加州  供应商  e系列  系统 
描述:来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息,为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科系统有限公司在美西半导体材料与设备展(Semicon West)上展示了该公司领先业界
威盛电子选用解决方案
作者:刘林发  来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 威盛电子股份有限公司  设计公司  分析实验室  台湾地区  特征分析  Inc  生产线  购买 
描述:系统有限公司近日宣布威盛电子股份有限公司 (VIA Technologies,Inc.)成为台湾地区首家从购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无
SEMICON展出Sapphire D-10系统
作者:杨振中  来源:电子资讯时报 年份:2006 文献类型 :报纸
描述:【杨振中/北京】半导体测试解决方案 主要供应商──(Credence)在刚刚 结束的“2006 SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析