检索结果相关分组
- Ikanos选用科利登Octet用于宽带数字信号处理并行测试
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 Ikanos公司 Octet 数字信号处理 并行测试
- 描述：Ikanos选用科利登Octet用于宽带数字信号处理并行测试
- 科利登跻身ATE塔尖行列
- 作者：东郭 来源：电子设计应用 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 半导体行业 科利登公司 ATE IC SoC 测试 ASL1000 ASL3000RF 市场
- 描述：科利登跻身ATE塔尖行列
- Raytheon公司选用科利登的IMS Electm系统测
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： Raytheon公司 IMSElectm系统 测试 逻辑集成电路
- 描述：Raytheon公司选用科利登的IMS Electm系统测
- 科利登连续三年ATE供应商满意度第一
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： VLSI 超大规模集成电路 测试 科利登系统公司 ATE 供应商 满意度
- 描述：科利登系统公司近日宣布：根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示，它在所有自动测试设备（ATE）供应商排名最高。并且在世界十佳测试与材料加工设备公司中排名第四。[第一段]
- 科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 集成电路 掩模 量产时间 诊断系统 测试 调试方法 降低 产品 加工成本 遗漏
- 描述：科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源，从而实现快速的设计修正，降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
- 科利登获“最佳测试奖”
- 作者：暂无 来源：上海商报 年份：2006 文献类型 ：报纸
- 描述： 本报讯 近日，来自美国加州苗必达市的消息称：科利登系统有限公司的Ｓａｐｐｈｉｒｅ Ｄ－１０系统荣获２００６年度《测试与测量世界》杂志授予的“最佳测试奖”奖项。 据了解，Ｓａｐｐｈｉｒｅ
- 科利登:成就测试帝国
- 作者：安勇龙 来源：电子经理世界 年份：2005 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登:成就测试帝国
- 科利登发布D-6432DFT测试解决方案
- 作者：暂无 来源：电子测试 年份：2007 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试解决方案 Systems 半导体设计 微处理器 供应商 性价比 器件
- 描述：半导体设计、测试解决方案的供应商科利登系统有限公司(Credence Systems Corporation)推出业界性价比最高、性能最为出众的解决方案Sapphire D-6432DFT,用于测试