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12
条
科
利
登
和Cadence合作验证加快良率诊断的新流程
作者：
暂无
来源：
集成电路应用
年份：
2005
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
Cadence
验证
合作
科
利
登
系统公司
诊断
测试平台
Test
测试覆盖率
测试向量
描述：
adence Encounter Diagnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据。在90nm或者更先进的工艺设计中，使用该诊断流程能增加测试覆盖率，提高缺陷定位速度。[第一段]
科
利
登
展示降低测试成本和加快产品量产时间的解决方案：SEM
作者：
暂无
来源：
集成电路应用
年份：
2004
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
科
利
登
系统公司
中国市场
测试成本
量产时间
解决方案
ASL
3000RF
描述：
科
利
登
展示降低测试成本和加快产品量产时间的解决方案：SEM
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