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条
香港科技园运用科利登先进的工具完善其诊断和特征分析
能力
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
个完整的失效分析实验室,从而能较早地在芯片设计过程中捕获重大的器件缺陷,帮助客户缩短
产品
上市时间,降低生产成本。[第一段]
科利登具有6.4G速度测试
能力
的Sapphire S测试系统
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
自动测试设备。D-6436是一款高性能高通道密度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gb·ps的高速芯片。Sun公司将把该系统使用于其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的
开发
。[第一
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