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登加入PCI—SIG和HyperTransport组织
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 登公司  PCI  SIG  HyperTransport组织  系统级芯片 
描述:登加入PCI—SIG和HyperTransport组织
登(Cre dence):访科登系统(上海)有限公司
作者:丁力  来源:集成电路应用 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 登系统有限公司  陈绪  人物访谈  发展战略  中国市场  测试设备 
描述:2004年3月17~19日,SEMI—CON中国2004展会在上海浦东国际会展中心隆重举行,来自全球各地的近千家企业展示了他们的先进技术和产品。
语简而理 言短亦多姿:读曾巩《墨池记》
作者:陈继民  来源:语文月刊 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 曾巩  《墨池记》  中学  语文  阅读欣赏  散文 
描述:不少散文作品,或通过记人叙事以表达情感和某种理性思考,或摹景状物然后卒章显志,且多以华丽的文字,绚烂的文句让人身临其境,达到感人的目的。也有一些散文,文字平实,如一泓清泉且在记叙中由一物生发开去,插以精湛的议论,唐宋散文八大家之一曾巩的散文《墨池
IC测试供应巨头科登落户申城
作者:李冰心  来源:上海经济报 年份:2004 文献类型 :报纸
描述:全球自动测试仪器(ATE)制造业领 军企业科登(Credence)公司昨日正式 宣布在沪成立分公司。科登总部位 于美国加州,从1978年成立至今,公司 已发展成为分支机构点遍布15个国家 的跨国
创建业界领导者——科登投资人更新
作者:G Siddall  来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 登公司  恩浦公司  特征分析  调试  半导体设备 
描述:创建业界领导者——科登投资人更新
新型科登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统定位  成品率  失效分析  激光扫描显微镜  软件设计  长工作距离  新型集成电路  切换系统  调试方法  工艺性能 
描述:新型科登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
Credence科登为制造商提供经济的解决方案和产能优势
作者:乔治  来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 半导体公司  成本效益  Credence  小型化  集成化 
描述:作等经营策略来迎接21世纪崭新的技术趋势,且让我们大致了解Credence在诸多领域的作为。
登提供从设计到生产全套的测试解决方案
作者:暂无 来源:今日电子 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 登系统公司  集成电路  测试技术  系统级芯片  嵌入式温度稳定技术  Personal  Kalos  2  ASL  3000RF 
描述:。科登系统公司适应时代潮流,将继续投资于其办事处、分公司、员工、产品、服务和用户,以支持中国半导体产业的成长。科登系统公司是世界半导体行业领先的测试供应商,提供从设计到生产全套的测试解决方案
登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题
作者:暂无 来源:今日电子 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统定位  成品率  失效分析  软件设计  长工作距离  新型集成电路  失效模式  切换系统  竞争优势  制造工艺 
描述:探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计用于与生产测试设备对接。该系统与科登的EmiScope系统(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope
登系统(上海)有限公司正式成立
作者:暂无 来源:电子产品世界 年份:2004 文献类型 :期刊文章
描述:登系统(上海)有限公司正式成立