检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(917)
报纸
(620)
图书
(21)
会议论文
(13)
学位论文
(9)
按栏目分组
历史名人
(1355)
地方文献
(144)
地方风物
(26)
非遗保护
(16)
宗教集要
(16)
才乡教育
(10)
红色文化
(8)
文化溯源
(5)
按年份分组
2014
(243)
2011
(130)
2009
(77)
2008
(96)
2006
(79)
2005
(87)
2004
(69)
2003
(54)
2002
(15)
2001
(34)
按来源分组
电子工业专用设备
(19)
中国集成电路
(18)
集成电路应用
(12)
电子与封装
(11)
电子产品世界
(6)
国外电子测量技术
(5)
纺织服装周刊
(3)
现代制造
(3)
食品安全导刊
(2)
建筑机械化
(1)
相关搜索词
升降式
何源富
半导体工业
发展战略
产业链
副总经理
国际贸易
测试
发展
半导体材料
公司
分支机构
主席
半导体行业
低功耗
促成
吞吐量
合同纠纷
品牌
存储器
多媒体
半导体
分析能力
产品系列
电器
同一
孔子
加工成本
复杂度
首页
>
根据【检索词:上海新利登机械有限公司】搜索到相关结果
79
条
华仪电器开创
新
风潮——访华仪电器集团
有限公司
董事长兼总裁陈
作者:
肖吉德
来源:
电气时代
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
有限公司
董事长
电器
总裁
集团
新风
中国经济
民营经济
改革开放
发展速度
描述:
型民营企业集团。陈道荣和妻子育有两儿一女。最推崇的人是中国改革开放总设计师邓小平。
科
利
登
新
推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
模块化结构
SoC芯片
特性
无线应用
芯片尺寸
测试设备
工程验证
混合信号
复杂度
描述:
SoC芯片功能的不断增加,再加上芯片尺寸不断缩小,新材料和新工艺的引进,要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外,很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上,进一步增加了复杂度。[第一段]
江西临川酒业
有限公司
作者:
暂无
来源:
求实
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
有限公司
临川
江西
酒业
产权改制
王安石
汤显祖
描述:
江西临川酒业
有限公司
坐落于素有“才子之乡”美称的王安石、汤显祖故里——临川,公司始创于1958年,前身为江西临川酒厂,2001年经过产权改制,由国有转为民营。[编者按]
威盛电子选用科
利
登
解决方案
作者:
刘林发
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
威盛电子股份有限公司
设计公司
分析实验室
台湾地区
特征分析
Inc
生产线
购买
描述:
科
利
登
系统
有限公司
近日宣布威盛电子股份有限公司 (VIA Technologies,Inc.)成为台湾地区首家从科
利
登
购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无
科
利
登
获“最佳测试奖”
作者:
暂无
来源:
上海商报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
本报讯 近日,来自美国加州苗必达市的消息称:科
利
登
系统
有限公司
的Sapphire D-10系统荣获
2006
年度《测试与测量世界》杂志授予的“最佳测试奖”奖项。 据了解,Sapphire
科
利
登
的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Sun公司
测试系统
自动测试设备
systems公司
微处理器芯片
高速芯片
科
利
登
公司
高速接口
描述:
很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
科
利
登
新品提供先进的射频测试能力
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试能力
射频
Zigbee
科
利
登
公司
WiMax
测试选件
网络分析
测试平台
无线电话
描述:
科
利
登
公司近日宣布:在其
新
的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
科
利
登
推出具有6.4G bps测试能力的Sapphires
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试系统
测试能力
自动测试设备
科
利
登
系统公司
Sun公司
4G
微处理器芯片
描述:
度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
科
利
登
Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
systems公司
Sun公司
测试系统
自动测试设备
微处理器芯片
SPARC
高速芯片
系统使用
描述:
开发。[第一段]
ATE巨头科
利
登
掀起测试行业新高潮
作者:
Peter
Wu
Mike
Evon
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试平台
ATE
行业
科
利
登
公司
高潮
掀起
SEMI
中国市场
中国用户
总经理
描述:
采访记录。
首页
上一页
1
2
3
4
5
6
下一页
尾页