检索结果相关分组
华仪电器开创风潮——访华仪电器集团有限公司董事长兼总裁陈
作者:肖吉德  来源:电气时代 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 有限公司  董事长  电器  总裁  集团  新风  中国经济  民营经济  改革开放  发展速度 
描述:型民营企业集团。陈道荣和妻子育有两儿一女。最推崇的人是中国改革开放总设计师邓小平。
推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 模块化结构  SoC芯片  特性  无线应用  芯片尺寸  测试设备  工程验证  混合信号  复杂度 
描述:SoC芯片功能的不断增加,再加上芯片尺寸不断缩小,新材料和新工艺的引进,要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外,很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上,进一步增加了复杂度。[第一段]
江西临川酒业有限公司
作者:暂无 来源:求实 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 有限公司  临川  江西  酒业  产权改制  王安石  汤显祖 
描述:江西临川酒业有限公司坐落于素有“才子之乡”美称的王安石、汤显祖故里——临川,公司始创于1958年,前身为江西临川酒厂,2001年经过产权改制,由国有转为民营。[编者按]
威盛电子选用科解决方案
作者:刘林发  来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 威盛电子股份有限公司  设计公司  分析实验室  台湾地区  特征分析  Inc  生产线  购买 
描述:系统有限公司近日宣布威盛电子股份有限公司 (VIA Technologies,Inc.)成为台湾地区首家从科购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无
获“最佳测试奖”
作者:暂无 来源:上海商报 年份:2006 文献类型 :报纸
描述:  本报讯  近日,来自美国加州苗必达市的消息称:科系统有限公司的Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“最佳测试奖”奖项。 据了解,Sapphire
的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: Sun公司  测试系统  自动测试设备  systems公司  微处理器芯片  高速芯片  公司  高速接口 
描述:很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
新品提供先进的射频测试能力
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试能力  射频  Zigbee  公司  WiMax  测试选件  网络分析  测试平台  无线电话 
描述:公司近日宣布:在其的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
推出具有6.4G bps测试能力的Sapphires
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试系统  测试能力  自动测试设备  系统公司  Sun公司  4G  微处理器芯片 
描述:度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: systems公司  Sun公司  测试系统  自动测试设备  微处理器芯片  SPARC  高速芯片  系统使用 
描述:开发。[第一段]
ATE巨头科掀起测试行业新高潮
作者:Peter Wu Mike Evon  来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试平台  ATE  行业  公司  高潮  掀起  SEMI  中国市场  中国用户  总经理 
描述:采访记录。