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利登测试系统被Silicon Image采用
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Silicon  Image  测试系统  利登系统公司  gigabit  解决方案  测试平台  电子器件  有限公司  数据传输  数字媒体  存储器  消费类  供应商  半导体 
描述:利登系统公司13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire测试系统作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键测试平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
威盛电子将利登(Credence)的Octet作为首选芯
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试平台  电子  生产测试  计算机芯片  测试时间  测试系统  可配置  芯片组  股份有限公司  系统公司 
描述:利登系统公司最近宣布,威盛电子股份有限公司已经将利登公司的可配置 SOC 芯片测试系统用作该公司计算机芯片组的量产测试。Octect 高效的测试时间及性能以其比竞争对手更为低廉的全面测试成本
利登公司公布2003财年第一季度结果
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 第一季度  财政年度  测试方案  美元  半导体工业  销售额  供应商  净亏损  有限公司  日结束 
描述:为全球半导体工业从设计到生产提供测试方案的主要供应商科利登公司(Nasdaq:CMOS),日前公开了于2003年1月31日结束的第一季度的财政收入情况。2003财政年度第一季度的净销售额为3,670万美元,比
利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登系统公司  设计纠错  验证  Verity系统  芯片 
描述:利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
Raytheon公司选用利登的IMS Electm系统测
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: Raytheon公司  IMSElectm系统  测试  逻辑集成电路 
描述:Raytheon公司选用利登的IMS Electm系统测
Ikanos选择利登的Octet测试系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登系统公司  Ikanos通讯公司  Octet测试系统  数字信号处理 
描述:Ikanos选择利登的Octet测试系统
矽格定购利登Sapphire测试系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 矽格微电子公司  Sapphire测试系统  利登系统有限公司  SoC器件  定购 
描述:利登系统有限公司近日宣布:矽格微电子公司,已经购买了多台Sapphire测试系统。作为利登近10年的客户,矽格直接经历了SoC器件的需求增长,这一增长同时也加速了消费类IC测试与封装外包市场
为不断降低测试成本而创新——访利登公司中国区总经理陈绪先生
作者:胡芃  来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登公司  总经理  测试成本  中国  创新 
描述:为不断降低测试成本而创新——访利登公司中国区总经理陈绪先生