检索结果相关分组
- 新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章
- 描述：新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
- 《周礼•考工记》乐钟部件系统
- 作者：李亚明 来源：文资学报 年份：2008 文献类型 ：期刊文章 关键词： 考工记 乐钟 部件系统
- 描述：《周禮‧考工記》（以下簡稱《考工記》）是迄今所見中國最早的手工業技術文獻，其《鳧氏》篇是中國最早的樂器聲學理論記載。本文在全面整理《考工記》樂鐘部件的基礎上，概括《考工記》樂鐘部件系統的層次性、關聯性、有序性三大特徵，提出《考工記》樂鐘部件之間具有縱向、上下和橫向的結構關聯，由此形成部件立體網絡。
- 新型科利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 成品率 掩模 测试解决方案 系统定位 集成电路 量产时间 物理分析 供应商 问题 产品
- 描述：正，从而降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
- ELMOS签署了购买多台科利登Piranha系统协议
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 签署 购买 产品线 合作伙伴 科利登公司 需求 协议 ha系统 器件 平台
- 描述：科利登公司日前宣布，ELMOS半导体签署了购买多台科利登Piranha系统的协议。作为科利登的长期合作伙伴，ELMOS选择Piranha是因为该系统能够满足公司对支持其整个汽车器件产品线测试
- 科利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率问题
- 作者：暂无 来源：今日电子 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 成品率 步进扫描 图像叠加 掩模 系统定位 集成电路 量产时间 问题 产品 加工成本
- 描述：效和稳固。GlobalScan-Ⅰ支持多种物镜选件，采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。
- QuickLogic选用科利登Sapphire D-10系统
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试系统 Logic公司 Quick 有限公司 工程验证 FPGA 低功耗 产品
- 描述：科利登系统（Credence）有限公司日前宣布QuickLogic公司购买了其Sapphire D—10测试系统，并将选用该系统作为下一代低功耗FPGA产品的工程验证和产品测试系统。[第一段]
- 科利登新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 模块化结构 SoC芯片 特性 无线应用 芯片尺寸 测试设备 工程验证 混合信号 复杂度
- 描述：SoC芯片功能的不断增加，再加上芯片尺寸不断缩小，新材料和新工艺的引进，要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外，很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上，进一步增加了复杂度
- 科利登系统公司2004年第二季度财务报告
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登系统公司2004年第二季度财务报告