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条
科
利登(Credence)和Cadence合作验证加快良率
作者:
暂无
来源:
半导体行业
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Cadence
验证
合作
科
利登系统公司
诊断
测试平台
Test
测试向量
捕获数
描述:
adence Encounter Diaqnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据,[第一段]
科
利登通过战略性收购扩充核心市场
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
市场
扩充
收购
公司
总经理
亚洲区
总裁
描述:
科
利登(Credence)公司日前在上海举办媒体答谢会,亚洲区营运总经理兼公司副总裁Mike Evon回顾了2000~2004年公司的发展状况。[第一段]
科
利登推出Sapphire—D10测试解决方案
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试解决方案
科
利登系统公司
微控制器
混合信号
显示驱动
e系列
多功能
消费类
封装
描述:
科
利登系统公司(Credence)日前宣布,推出Sapphire系列的新成员Sapphire-D10。该系统是一款创新、高产能、多功能的圆片和封装测试解决方案,特别为微控制器、无线基带、显示驱动
ELMOS签署了购买多台
科
利登Piranha系统协议
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
签署
购买
产品线
合作伙伴
科
利登公司
需求
协议
ha系统
器件
平台
描述:
科
利登公司日前宣布,ELMOS半导体签署了购买多台
科
利登Piranha系统的协议。作为
科
利登的长期合作伙伴,ELMOS选择Piranha是因为该系统能够满足公司对支持其整个汽车器件产品线测试
Raytheon公司选用
科
利登的IMS Electm系统测
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Raytheon公司
IMSElectm系统
测试
逻辑集成电路
描述:
Raytheon公司选用
科
利登的IMS Electm系统测
DA测试公司应用
科
利登Quartet One来提高测试能力
作者:
暂无
来源:
无线电工程
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登系统公司
DA测试公司
QuartetOne
SoC芯片
测试能力
描述:
DA测试公司应用
科
利登Quartet One来提高测试能力
Atmel利用
科
利登的ASL3000RF^TM无线测试系统
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
解决方案
测试系统
性能
射频芯片
开发团队
灵活度
科罗拉多
开发时间
分支机构
无线测试
描述:
科
利登系统有限公司近日宣布:Atmel公司购买了ASL 3000RF系统作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件
Atmel采用
科
利登无线测试系统实现高效率
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
无线测试
测试解决方案
无线器件
高效率
射频芯片
ASL3000
Atmel公司
分支机构
团队
工程开发
描述:
科
利登公司近日宣布,Atmel公司选用ASL3000RF系统作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件和应用的射频芯片较低
科
利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
集成电路
掩模
量产时间
诊断系统
测试
调试方法
降低
产品
加工成本
遗漏
描述:
科
利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源,从而实现快速的设计修正,降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
科
利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率问题
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
成品率
步进扫描
图像叠加
掩模
系统定位
集成电路
量产时间
问题
产品
加工成本
描述:
效和稳固。GlobalScan-Ⅰ支持多种物镜选件,采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。
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