检索结果相关分组
- 科利登连续三年获得VLSI用户满意度调查ATE供应商排名第一
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 用户满意度调查 供应商 VLSI ATE 测试解决方案 自动测试设备 2005年 LSI公司 半导体行业 加工设备
- 描述：全球半导体行业从设计到产品的测试解决方案厂商——科利登系统(纳斯达克挂牌为CMOS)宣布：根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示，它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高，并且在世界十佳
- 科利登和Cadence合作验证加快良率诊断的新流程
- 作者：暂无 来源：集成电路应用 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Cadence 验证 合作 科利登系统公司 诊断 测试平台 Test 测试覆盖率 测试向量
- 描述：adence Encounter Diagnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据。在90nm或者更先进的工艺设计中，使用该诊断流程能增加测试覆盖率，提高缺陷定位速度。[第一段]
- 科利登公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登公司 MSVanguard系列 半导体行业 生产测试 逻辑集成电路
- 描述：科利登公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
- 科利登端对端6．4Gbps高速总线解决方案提供业界领先的性
- 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 高速总线 端对端 成本优势 测试选件 产品系列 有限公司 芯片测试 成本优化 验证分析
- 描述：。[第一段]
- 科利登和Cadence合力加快良率诊断的新流程
- 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登（Credence）和Cadence共同努力，针对现在大部分良率要求很高的纳米设计，推出的解决方案提高了产品质量，加大了测试产能，加快了缺陷定位速度，从而最终缩短了量产上市时间。[第一段]
- 第四届科利登系列技术研讨年会子2006年6月2日在中国西安
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 技术研讨会 西安 中国 年会 IC测试 RFID芯片
- 描述：对本次研讨会的主题表现出了浓厚的兴趣，积极地与来自科利登的演讲专家进行沟通和探讨，同期现场展示的科利登最新产品SapphireD-10，也吸引了代表们的高度关注。[第一段]
- 科利登公司连续第五年取得VLSI Research十佳客户
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型 ：期刊文章
- 描述：在2006年度VLSI Research客户满意度调查中，科利登公司再次取得了很好的排名。科利登公司已经连续五年被客户评选为“十佳”的前五名，这也证明了科利登公司的产品、客户服务和支持的独到之处
- 基于B/S的临川文化名人数据库的设计与实现
- 作者：张文华 冯凯 胡春 胡光林 年份：2014 文献类型 ：期刊文章 关键词： 特色数据库 B/S 检索系统
- 描述：结合基于B/S的临川文化名人数据库的建设实践,对数据库的构建、信息的搜集与组织、系统功能及编程实现、数据库的宣传等方面进行了探讨。