检索结果相关分组
GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率问题
作者:暂无 来源:今日电子 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 成品率  步进扫描  图像叠加  掩模  系统定位  集成电路  量产时间  问题  产品  加工成本 
描述:效和稳固。GlobalScan-Ⅰ支持多种物镜选件,采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。
完备失效分析实验室落户威盛
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 威盛电子股份有限公司  分析实验室  失效  完备  设计公司  公司  台湾地区  特征分析  生产线  购买 
描述:公司日前宣布威盛电子股份有限公司成为台湾地区首家从科购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无生产线的芯片设计公司)。[第一段]
Micrel购买多台科ASL 3000和ASL 100
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 混合信号测试  Micrel公司  ASL3000  ASL1000系统 
描述:Micrel购买多台科ASL 3000和ASL 100
推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试解
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述:以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。[第一段]
与北方工业大学合作成立工程培训中心
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 培训中心  工业大学  合作  北方  2004年6月  系统公司  工程  测试解决方案  半导体工业  半导体产品  SOC测试  特性分析  混合信号  供应商 
描述:2004年6月14日,美围加州MILPITAS--科系统公司,世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商,今天宣布与北方工业大学合作建立培训中心。培训中心最初将着重于半导体产品的验证
系统公司2004年第二季度财务报告
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章
描述:系统公司2004年第二季度财务报告
在MediaTek推动下多台科Sapphire NP系
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: MediaTek公司  Sapphire  NP系统  测试系统  测试容量  DVD市场 
描述:在MediaTek推动下多台科Sapphire NP系
Ikanos选择科的Octet测试系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统公司  Ikanos通讯公司  Octet测试系统  数字信号处理 
描述:Ikanos选择科的Octet测试系统
全新的科:提供先进技术降低测试成本
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  测试成本  竞争优势  商业战略 
描述:全新的科:提供先进技术降低测试成本
DMEA购买科IMS Vanguard测试系统
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: DMEA工程实验室  IMS  Vanguard测试系统  公司  微处理器 
描述:DMEA购买科IMS Vanguard测试系统