检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(206)
报纸
(56)
会议论文
(3)
图书
(1)
按栏目分组
历史名人
(256)
地方文献
(4)
地方风物
(2)
非遗保护
(2)
才乡教育
(1)
宗教集要
(1)
按年份分组
2014
(21)
2010
(11)
2009
(3)
2006
(36)
2005
(48)
2004
(43)
2003
(21)
2002
(2)
2000
(2)
1984
(1)
按来源分组
电子工业专用设备
(19)
古籍整理研究学刊
(2)
山东美术出版社
(1)
新晋商
(1)
编创之友
(1)
现代装饰
(1)
语文新圃
(1)
工厂管理
(1)
新理财
(1)
抚州师专学报
(1)
相关搜索词
孔子
礼
中国古代
利益
初中生
委员会
墨翟
半导体生产
山西
现代
商纣
多金属硫化矿
反腐倡廉
声音
工业经济
舒化西林胶囊
测试
大司马
半导体行业
升降式
器件
半导体材料
存储器件
半导体工业
威盛电子股份有限公司
发展策略
印度
博士
团队
首页
>
根据【检索词:利】搜索到相关结果
266
条
microtec购买多台科
利
登Sapphire D-10测
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试系统
购买
渗透力
测试实验室
市场
有限公司
混合信号
音
视频
数字和
多媒体
描述:
科
利
登系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台Sapphire^TM WD-10测试系统。该测试实验室将使用这些业界领先的测试系统来测试多媒体音/视频数字
Micrel购买多台科
利
登ASL 3000和ASL 100
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
混合信号测试
Micrel公司
科
利
登ASL3000
ASL1000系统
描述:
Micrel购买多台科
利
登ASL 3000和ASL 100
低成本和高性能促成DEI购买科
利
登的ASL平台
作者:
本刊通讯员
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
DEI
平台
购买
促成
成本
测试系统
专用集成电路
有限公司
SL系列
描述:
科
利
登系统有限公司近日宣布:DeviceEngineering Inc.(DEI)公司购买了ASL测试系统。此次ASL 3000^TM的定购是由ASL系列的低成本、高产能和高精度而促成的。DEI
科
利
登新推出的Sapphire D-40测试平台结合其MV
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试平台
测试能力
射频
RF
测试解决方案
Zigbee
半导体工业
WiMax
有限公司
测试选件
描述:
pphire D系列的测试能力。[第一段]
科
利
登新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
模块化结构
SoC芯片
特性
无线应用
芯片尺寸
测试设备
工程验证
混合信号
复杂度
描述:
SoC芯片功能的不断增加,再加上芯片尺寸不断缩小,新材料和新工艺的引进,要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外,很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上,进一步增加了复杂度。[第一段]
科
利
登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试解
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。[第一段]
科
利
登与北方工业大学合作成立工程培训中心
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
培训中心
工业大学
合作
北方
2004年6月
科
利
登系统公司
工程
测试解决方案
半导体工业
半导体产品
SOC测试
特性分析
混合信号
供应商
描述:
2004年6月14日,美围加州MILPITAS--科
利
登系统公司,世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商,今天宣布与北方工业大学合作建立培训中心。培训中心最初将着重于半导体产品的验证
科
利
登系统公司2004年第二季度财务报告
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利
登系统公司2004年第二季度财务报告
在MediaTek推动下多台科
利
登Sapphire NP系
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
MediaTek公司
Sapphire
NP系统
测试系统
测试容量
DVD市场
描述:
在MediaTek推动下多台科
利
登Sapphire NP系
Ikanos选择科
利
登的Octet测试系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登系统公司
Ikanos通讯公司
Octet测试系统
数字信号处理
描述:
Ikanos选择科
利
登的Octet测试系统
首页
上一页
12
13
14
15
16
17
18
19
20
下一页
尾页