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公司把IMS Vanguard系列延伸增长快速的消费
作者:暂无 来源:电子产品世界 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 消费电子  工程验证  优化设计  逻辑集成电路  测试系统  软件工具  特性测试  工程实验室  实时处理  图形接口 
描述:公司把IMS Vanguard系列延伸增长快速的消费
为不断降低测试成本而创新——访公司中国区总经理陈绪先生
作者:胡芃  来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  总经理  测试成本  中国  创新 
描述:为不断降低测试成本而创新——访公司中国区总经理陈绪先生
新增端对端6.4Gbps高速芯片测试产品
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 芯片测试  高速  端对端  成本优势  测试选件  通道数量  参数分析  总线测试  IP技术 
描述:这些选件成为6.4Gbps的高速穿行总线测试的低成本解决方案。[第一段]
连续三年获得VLSI用户满意度调查ATE供应商排名第一
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 用户满意度调查  供应商  VLSI  ATE  测试解决方案  自动测试设备  2005年  LSI公司  半导体行业  加工设备 
描述:全球半导体行业从设计到产品的测试解决方案厂商——系统(纳斯达克挂牌为CMOS)宣布:根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高,并且在世界十佳
和Cadence合作验证加快良率诊断的新流程
作者:暂无 来源:集成电路应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Cadence  验证  合作  系统公司  诊断  测试平台  Test  测试覆盖率  测试向量 
描述:adence Encounter Diagnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据。在90nm或者更先进的工艺设计中,使用该诊断流程能增加测试覆盖率,提高缺陷定位速度。[第一段]
公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  MSVanguard系列  半导体行业  生产测试  逻辑集成电路 
描述:公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
展示降低测试成本和加快产品量产时间的解决方案:SEM
作者:暂无 来源:集成电路应用 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统公司  中国市场  测试成本  量产时间  解决方案  ASL  3000RF 
描述:展示降低测试成本和加快产品量产时间的解决方案:SEM
和Cadence合力加快良率诊断的新流程
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述:(Credence)和Cadence共同努力,针对现在大部分良率要求很高的纳米设计,推出的解决方案提高了产品质量,加大了测试产能,加快了缺陷定位速度,从而最终缩短了量产上市时间。[第一段]
全球有超过150套的的3.2Gbps测试设备用于高速
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述:被全球10大主要客户所采用,这些客户有著名的fabless设计公司,测试承包商及IDM领导厂商。D-3208高性能设备可用于多种应用中的产品特征分析及量产测试,包括HyperTransport
欧洲领先的测试实验室Microtec购买多台Sapp
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:频数字和混合信号芯片,以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]