检索结果相关分组
- 科利登和Cadence合作验证加快良率诊断的新流程
- 作者：暂无 来源：集成电路应用 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Cadence 验证 合作 科利登系统公司 诊断 测试平台 Test 测试覆盖率 测试向量
- 描述：adence Encounter Diagnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据。在90nm或者更先进的工艺设计中，使用该诊断流程能增加测试覆盖率，提高缺陷定位速度。[第一段]
- 科利登公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登公司 MSVanguard系列 半导体行业 生产测试 逻辑集成电路
- 描述：科利登公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
- 科利登展示降低测试成本和加快产品量产时间的解决方案：SEM
- 作者：暂无 来源：集成电路应用 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 中国市场 测试成本 量产时间 解决方案 ASL 3000RF
- 描述：科利登展示降低测试成本和加快产品量产时间的解决方案：SEM
- 科利登端对端6．4Gbps高速总线解决方案提供业界领先的性
- 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 高速总线 端对端 成本优势 测试选件 产品系列 有限公司 芯片测试 成本优化 验证分析
- 描述：。[第一段]
- 科利登和Cadence合力加快良率诊断的新流程
- 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登（Credence）和Cadence共同努力，针对现在大部分良率要求很高的纳米设计，推出的解决方案提高了产品质量，加大了测试产能，加快了缺陷定位速度，从而最终缩短了量产上市时间。[第一段]
- 全球有超过150套的科利登的3．2Gbps测试设备用于高速
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2005 文献类型 ：期刊文章
- 描述：被全球10大主要客户所采用，这些客户有著名的fabless设计公司，测试承包商及IDM领导厂商。科利登D-3208高性能设备可用于多种应用中的产品特征分析及量产测试，包括HyperTransport
- 欧洲领先的测试实验室Microtec购买多台科利登Sapp
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2006 文献类型 ：期刊文章
- 描述：频数字和混合信号芯片，以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]
- 香港科技园运用科利登先进的工具完善其诊断和特征分析能力
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2006 文献类型 ：期刊文章
- 描述：个完整的失效分析实验室，从而能较早地在芯片设计过程中捕获重大的器件缺陷，帮助客户缩短产品上市时间，降低生产成本。[第一段]
- 第四届科利登系列技术研讨年会子2006年6月2日在中国西安
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 技术研讨会 西安 中国 年会 IC测试 RFID芯片
- 描述：对本次研讨会的主题表现出了浓厚的兴趣，积极地与来自科利登的演讲专家进行沟通和探讨，同期现场展示的科利登最新产品SapphireD-10，也吸引了代表们的高度关注。[第一段]
- 科利登公司连续第五年取得VLSI Research十佳客户
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型 ：期刊文章
- 描述：在2006年度VLSI Research客户满意度调查中，科利登公司再次取得了很好的排名。科利登公司已经连续五年被客户评选为“十佳”的前五名，这也证明了科利登公司的产品、客户服务和支持的独到之处