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合同纠纷
半导体工业
分析能力
多金属矿石
天井钻机
半导体市场
公司
半导体生产
分层充填采矿法
发展
器件
科利登公司
地下矿山
失效分析
Kalos
器件测试
品位
Raytheon公司
SoC芯片
冶炼厂
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出售
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根据【检索词:香港登利登公司等申请承认和执行香港特别行政区高等法院原讼法】搜索到相关结果
1906
条
科
利
登
新设工程培训中心,继续得到用户认可
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
培训中心
科
利
登
系统
公司
工程
认可
用户
自动测试仪器
半导体产品
SOC测试
首席执行官
工业大学
特性分析
混合信号
产业市场
测试设备
实践经验
中国
总裁
描述:
中国的支持力度。非常荣幸能向这所顶尖大学提供测试设备,让学生获得自动测试仪器领域的实践经验。”
科
利
登
(Credence)和Cadence合作验证加快良率
作者:
暂无
来源:
半导体行业
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Cadence
验证
合作
科
利
登
系统
公司
诊断
测试平台
Test
测试向量
捕获数
描述:
adence Encounter Diaqnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据,[第一段]
科
利
登
推出Sapphire—D10测试解决方案
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试解决方案
科
利
登
系统
公司
微控制器
混合信号
显示驱动
e系列
多功能
消费类
封装
描述:
科
利
登
系统
公司
(Credence)日前宣布,推出Sapphire系列的新成员Sapphire-D10。该系统是一款创新、高产能、多功能的圆片和封装测试解决方案,特别为微控制器、无线基带、显示驱动
ELMOS签署了购买多台科
利
登
Piranha系统协议
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
签署
购买
产品线
合作伙伴
科
利
登
公司
需求
协议
ha系统
器件
平台
描述:
科
利
登
公司
日前宣布,ELMOS半导体签署了购买多台科
利
登
Piranha系统的协议。作为科
利
登
的长期合作伙伴,ELMOS选择Piranha是因为该系统能够满足
公司
对支持其整个汽车器件产品线测试
Atmel利用科
利
登
的ASL3000RF^TM无线测试系统
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
解决方案
测试系统
性能
射频芯片
开发团队
灵活度
科罗拉多
开发时间
分支机构
无线测试
描述:
科
利
登
系统有限公司近日宣布:Atmel
公司
购买了ASL 3000RF系统作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件
Atmel采用科
利
登
无线测试系统实现高效率
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
无线测试
测试解决方案
无线器件
高效率
射频芯片
ASL3000
Atmel
公司
分支机构
团队
工程开发
描述:
科
利
登
公司
近日宣布,Atmel
公司
选用ASL3000RF系统作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件和应用的射频芯片较低
科
利
登
新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
集成电路
掩模
量产时间
诊断系统
测试
调试方法
降低
产品
加工成本
遗漏
描述:
科
利
登
日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源,从而实现快速的设计修正,降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
科
利
登
GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率问题
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
成品率
步进扫描
图像叠加
掩模
系统定位
集成电路
量产时间
问题
产品
加工成本
描述:
效和稳固。GlobalScan-Ⅰ支持多种物镜选件,采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。
科
利
登
完备失效分析实验室落户威盛
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
威盛电子股份有限公司
分析实验室
失效
完备
设计
公司
科
利
登
公司
台湾地区
特征分析
生产线
购买
描述:
科
利
登
公司
日前宣布威盛电子股份有限公司成为台湾地区首家从科
利
登
购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无生产线的芯片设计
公司
)。[第一段]
QuickLogic选用科
利
登
Sapphire D-10系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试系统
Logic
公司
Quick
有限公司
工程验证
FPGA
低功耗
产品
描述:
科
利
登
系统(Credence)有限公司日前宣布QuickLogic
公司
购买了其Sapphire D—10测试系统,并将选用该系统作为下一代低功耗FPGA产品的工程验证和产品测试系统。[第一段]
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