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发展
参数分析
半导体工业
Octet系统
图象质量
器件
测试
Sapphire
Micrel公司
Octet
半导体行业
Raytheon公司
供应商
加工成本
存储器件
SoC芯片
科利登公司
增强型
Sun公司
Personal
存储器
半导体业
systems公司
器件测试
中国用户
多功能
分支机构
团队
Octet测试系统
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根据【检索词:全球有超过150套的科利登的3.2Gbps测试设备用于高速】搜索到相关结果
560
条
科
利
登
新聘资深专家加强公司领导团队力量
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
力量
专家
测试
解决方案
半导体工业
首席执行官
全球
范围
市场
供应商
描述:
现场运营和市场团队,集中于逐渐扩展
科
利
登在日本和台湾等主要市场领域的业务。[第一段]
整合优势资源 突破技术创新——访
科
利
登
系统公司总裁兼首席
作者:
陆彦
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统公司
David
首席执行官
技术创新
优势资源
总裁
整合
测试
解决方案
测试
成本
描述:
并了台湾的业务,这一系列的重大决策,已经及将会给
科
利
登
带来怎样的发展呢?我们就此采访了
科
利
登
系统公司的总裁兼首席执行官DavidA.Ranhoff。
放眼亚太 倾情中国——访
科
利
登
系统公司中国区总经理陈绪先生
作者:
黄刚
来源:
电子工业专用设备
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
中国
科
利
登
系统公司
陈绪
人物采访
半导体产业
市场
测试
服务供应商
描述:
,今年的情况又怎么呢?本刊记者专访了国际著名
测试
厂商credence(
科
利
登
)中国区总经理陈绪先生。
科
利
登
公司把IMS Vanguard系列延伸增长快速的消费
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
消费电子
工程验证
优化设计
逻辑集成电路
测试
系统
软件工具
特性
测试
工程实验室
实时处理
图形接口
描述:
科
利
登
公司把IMS Vanguard系列延伸增长快速的消费
科
利
登
推出Kalos 2 Hex系统作为存储器器件灵活,完
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Kalos
测试
解决方案
x系统
推出
He
集成电路
测试
系统
Personal
科
利
登
系统公司
非挥发性存储器
存储器件
测试
能力
软件工具
嵌入式
全兼容
硬件
描述:
生产用
测试
系统Kalos 2和工程
测试
系统Personal Kalos 2完全兼容。多台K2 Hex系统已经安装并
用于
复杂嵌入存储器件的
测试
。
香港科技园运用
科
利
登
的工具完善其诊断和特征分析能力
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
特征分析
科技园
分析能力
诊断
香港
Systems
工具
有限公司
CMOS
工程验证
描述:
科
利
登
系统有限公司(Credence Systems Corporation,纳斯达克代码:CMOS)宣布:香港科技园(HKSTP)在其已有的一系列
科
利
登
诊断、工程验证、特征分析及测试仪系统的基础
科
利
登
连续三年获得VLSI用户满意度调查ATE供应商排名第一
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
用户满意度调查
供应商
VLSI
ATE
测试
解决方案
自动测试
设备
2005年
LSI公司
半导体行业
加工
设备
描述:
全球
半导体行业从设计到产品的
测试
解决方案厂商——
科
利
登
系统(纳斯达克挂牌为CMOS)宣布:根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试
设备
(ATE)供应商排名最高,并且在世界十佳
科
利
登
和Cadence合作验证加快良率诊断的新流程
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Cadence
验证
合作
科
利
登
系统公司
诊断
测试
平台
Test
测试
覆盖率
测试
向量
描述:
adence Encounter Diagnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据。在90nm或者更先进的工艺设计中,使用该诊断流程能增加
测试
覆盖率,提高缺陷定位速度。[第一段]
科
利
登
公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
MSVanguard系列
半导体行业
生产
测试
逻辑集成电路
描述:
科
利
登
公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
科
利
登
和Cadence合力加快良率诊断的新流程
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利
登
(Credence)和Cadence共同努力,针对现在大部分良率要求很高的纳米设计,推出的解决方案提高了产品质量,加大了
测试
产能,加快了缺陷定位速度,从而最终缩短了量产上市时间。[第一段]
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