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新型利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统定位  成品率  失效分析  激光扫描显微镜  软件设计  长工作距离  新型集成电路  切换系统  调试方法  工艺性能 
描述:新型利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
Credence利登为制造商提供经济的解决方案和产能优势
作者:乔治  来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 半导体公司  成本效益  Credence  小型化  集成化 
描述:作等经营策略来迎接21世纪崭新的技术趋势,且让我们大致了解Credence在诸多领域的作为。
利登:增强型SZ Falcon测试系统
作者:暂无 来源:今日电子 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 增强型  串行总线  数字信号处理  任意波形发生器  数据传输  模拟波形  混合信号  测试程序开发  测试要求  测试系统 
描述:利登:增强型SZ Falcon测试系统
利登推出具有6.4G bps测试能力的Sapphires
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试系统  测试能力  自动测试设备  利登系统公司  Sun公司  4G  微处理器芯片 
描述:度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
Zetex半导体购买多台利登ASL3000系统
作者:刘林发  来源:电子与封装 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: ASL3000  半导体  购买  利登系统公司  混合信号  测试成本  器件  拟和 
描述:利登系统公司日前宣布Zetex半导体购买了多台ASL3000系统用于其多种模拟和混合信号器件的测试。选择ASL3000可以帮助Zetex在降低测试成本的同时增加产能。
利登发布D-6432DFT测试解决方案,帮助用户满足不断
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2007 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试解决方案  高数据速率  Systems  用户  半导体工业  微处理器  测试平台  供应商 
描述:件。该设备的推出再次强化了利登市场领先的Sapphire测试平台。[第一段]
Tripath技术公司购买利登(Credence)的混合
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试设备  技术公司  混合信号  领先者  解决方案  生产测试  半导体工业  系统公司  购买  设计 
描述:作为一个为全球半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先者,利登系统公司日前宣布 Tripath 技术公司购买了ASL 3000测试设备。Tripath 技术
利登提供从设计到生产全套的测试解决方案
作者:暂无 来源:今日电子 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登系统公司  集成电路  测试技术  系统级芯片  嵌入式温度稳定技术  Personal  Kalos  2  ASL  3000RF 
描述:利登系统公司适应时代潮流,将继续投资于其办事处、分公司、员工、产品、服务和用户,以支持中国半导体产业的成长。利登系统公司是世界半导体行业领先的测试供应商,提供从设计到生产全套的测试解决方案
利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题
作者:暂无 来源:今日电子 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统定位  成品率  失效分析  软件设计  长工作距离  新型集成电路  失效模式  切换系统  竞争优势  制造工艺 
描述:探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计用于与生产测试设备对接。该系统与利登的EmiScope系统(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope
利登公司2003财政年度第一季度净亏损为2870万美元
作者:暂无 来源:集成电路应用 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 第一季度  财政年度  净亏损  测试方案  美元  半导体工业  财政收入  供应商  日结束  公司 
描述:2月18日,为全球半导体工业从设计到生产提供测试方案的主要供应商科利登公司公开了于2003年1月31日结束的第一季度的财政收入情况。