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相关搜索词
测试
器件
半导体工业
半导体生产
半导体材料
科利登公司
失效分析
器件测试
Raytheon公司
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根据【检索词:科利登系统公司】搜索到相关结果
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条
ATE巨头
科
利
登
掀起测试行业新高潮
作者:
Peter
Wu
Mike
Evon
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试平台
ATE
行业
科
利
登
公司
高潮
掀起
SEMI
中国市场
中国用户
总经理
描述:
采访记录。
科
利
登
推出完整的设计纠错和验证解决方案
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
公司
设计纠错
验证
Verity
系统
芯片
描述:
科
利
登
推出完整的设计纠错和验证解决方案
Silicon Image购买了
科
利
登
Sapphire测试
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
电子器件
测试
系统
消费类
购买
科
利
登
系统
公司
gigabit
一代
测试解决方案
半导体工业
测试平台
有限公司
数据传输
供应商
存储器
代码
描述:
些解决方案用于强数宇媒体的数据传输和存储。
科
利
登
(Credence)与蔚华科技合并台湾业务
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Integration
合并
科技
科
利
登
系统
公司
业务
股份有限公司
测试解决方案
半导体行业
技术整合
测试设备
集中培训
台湾地区
供应商
人力
描述:
进一步致力于
科
利
登在台湾地区用户的支持。
科
利
登
市场动作频频备受全球业界瞩目
作者:
海菲
来源:
电子与封装
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
全球
市场
科
利
登
系统
公司
测试解决方案
半导体工业
描述:
世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供直商科
利
登
系统
公司
近两个月来连续宣布三个市场动作,备受全球业界瞩目。[第一段]
科
利
登
新设工程培训中心,继续得到用户认可
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
培训中心
科
利
登
系统
公司
工程
认可
用户
自动测试仪器
半导体产品
SOC测试
首席执行官
工业大学
特性分析
混合信号
产业市场
测试设备
实践经验
中国
总裁
描述:
中国的支持力度。非常荣幸能向这所顶尖大学提供测试设备,让学生获得自动测试仪器领域的实践经验。”
科
利
登
(Credence)和Cadence合作验证加快良率
作者:
暂无
来源:
半导体行业
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Cadence
验证
合作
科
利
登
系统
公司
诊断
测试平台
Test
测试向量
捕获数
描述:
adence Encounter Diaqnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据,[第一段]
科
利
登
推出Sapphire—D10测试解决方案
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试解决方案
科
利
登
系统
公司
微控制器
混合信号
显示驱动
e系列
多功能
消费类
封装
描述:
科
利
登
系统
公司
(Credence)日前宣布,推出Sapphire系列的新成员Sapphire-D10。该
系统
是一款创新、高产能、多功能的圆片和封装测试解决方案,特别为微控制器、无线基带、显示驱动
科
利
登
新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
集成电路
掩模
量产时间
诊断系统
测试
调试方法
降低
产品
加工成本
遗漏
描述:
科
利
登
日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此
系统
能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源,从而实现快速的设计修正,降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
科
利
登
完备失效分析实验室落户威盛
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
威盛电子股份有限公司
分析实验室
失效
完备
设计
公司
科
利
登
公司
台湾地区
特征分析
生产线
购买
描述:
科
利
登
公司
日前宣布威盛电子股份有限公司成为台湾地区首家从
科
利
登
购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无生产线的芯片设计
公司
)。[第一段]
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