检索结果相关分组
新品提供先进的射频测试能力
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试能力  射频  Zigbee  公司  WiMax  测试选件  网络分析  测试平台  无线电话 
描述:公司近日宣布:在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
创建业界领导者——科投资人更新
作者:G Siddall  来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  恩浦公司  特征分析  调试  半导体设备 
描述:创建业界领导者——科投资人更新
D-6432DFT满足高数据速率需求
作者:暂无 来源:世界电子元器件 年份:2007 文献类型 :期刊文章 关键词: 高数据速率  测试解决方案  系统公司  半导体器件  高速串行总线  可测性设计  微处理器  环路测试 
描述:的密度比同类产品高出4倍,可为制造商提供突破性的可测性设计(DFT)方法,助其显著降低高速半导体器
新型科GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统定位  成品率  失效分析  激光扫描显微镜  软件设计  长工作距离  新型集成电路  切换系统  调试方法  工艺性能 
描述:新型科GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
Credence科为制造商提供经济的解决方案和产能优势
作者:乔治  来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 半导体公司  成本效益  Credence  小型化  集成化 
描述:作等经营策略来迎接21世纪崭新的技术趋势,且让我们大致了解Credence在诸多领域的作为。
良好开端,再攀高峰——访美国科(Credence)系统
作者:邬小梅 卢玥光  来源:半导体技术 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 美国科系统公司  陈绪  人物采访  集成电路产业  战略部署 
描述:良好开端,再攀高峰——访美国科(Credence)系统
:增强型SZ Falcon测试系统
作者:暂无 来源:今日电子 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 增强型  串行总线  数字信号处理  任意波形发生器  数据传输  模拟波形  混合信号  测试程序开发  测试要求  测试系统 
描述::增强型SZ Falcon测试系统
推出具有6.4G bps测试能力的Sapphires
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试系统  测试能力  自动测试设备  系统公司  Sun公司  4G  微处理器芯片 
描述:度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
Zetex半导体购买多台科ASL3000系统
作者:刘林发  来源:电子与封装 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: ASL3000  半导体  购买  系统公司  混合信号  测试成本  器件  拟和 
描述:系统公司日前宣布Zetex半导体购买了多台ASL3000系统用于其多种模拟和混合信号器件的测试。选择ASL3000可以帮助Zetex在降低测试成本的同时增加产能。
发布D-6432DFT测试解决方案,帮助用户满足不断
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2007 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试解决方案  高数据速率  Systems  用户  半导体工业  微处理器  测试平台  供应商 
描述:件。该设备的推出再次强化了科市场领先的Sapphire测试平台。[第一段]