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:增强型SZ Falcon测试系统
作者:暂无 来源:今日电子 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 增强型  串行总线  数字信号处理  任意波形发生器  数据传输  模拟波形  混合信号  测试程序开发  测试要求  测试系统 
描述::增强型SZ Falcon测试系统
推出具有6.4G bps测试能力的Sapphires
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试系统  测试能力  自动测试设备  系统公司  Sun公司  4G  微处理器芯片 
描述:度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
Zetex半导体购买多台科ASL3000系统
作者:刘林发  来源:电子与封装 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: ASL3000  半导体  购买  系统公司  混合信号  测试成本  器件  拟和 
描述:系统公司日前宣布Zetex半导体购买了多台ASL3000系统用于其多种模拟和混合信号器件的测试。选择ASL3000可以帮助Zetex在降低测试成本的同时增加产能。
发布D-6432DFT测试解决方案,帮助用户满足不断
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2007 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试解决方案  高数据速率  Systems  用户  半导体工业  微处理器  测试平台  供应商 
描述:件。该设备的推出再次强化了科市场领先的Sapphire测试平台。[第一段]
提供从设计到生产全套的测试解决方案
作者:暂无 来源:今日电子 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统公司  集成电路  测试技术  系统级芯片  嵌入式温度稳定技术  Personal  Kalos  2  ASL  3000RF 
描述:。科系统公司适应时代潮流,将继续投资于其办事处、分公司、员工、产品、服务和用户,以支持中国半导体产业的成长。科系统公司是世界半导体行业领先的测试供应商,提供从设计到生产全套的测试解决方案
GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题
作者:暂无 来源:今日电子 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统定位  成品率  失效分析  软件设计  长工作距离  新型集成电路  失效模式  切换系统  竞争优势  制造工艺 
描述:探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计用于与生产测试设备对接。该系统与科的EmiScope系统(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope
测试系统被Silicon Image采用
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Silicon  Image  测试系统  系统公司  gigabit  解决方案  测试平台  电子器件  有限公司  数据传输  数字媒体  存储器  消费类  供应商  半导体 
描述:系统公司13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire测试系统作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键测试平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
威盛电子将科(Credence)的Octet作为首选芯
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试平台  电子  生产测试  计算机芯片  测试时间  测试系统  可配置  芯片组  股份有限公司  系统公司 
描述:系统公司最近宣布,威盛电子股份有限公司已经将科公司的可配置 SOC 芯片测试系统用作该公司计算机芯片组的量产测试。Octect 高效的测试时间及性能以其比竞争对手更为低廉的全面测试成本
Zetex半导体选择科的ASL3000测试其类型广泛的
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: ASL3000  混合信号  拟和  系统公司  类型  测试解决方案  集成电路器件  美国加州  半导体业  测试成本  分立器件  产品市场  测试方案  供应商  设计 
描述:说:“Zetex设计并制造分立器件和集成电路器件用于通讯、消费、汽车和工业产品市场。我们的产品需要采用成本最低的高质量的测试方案。
连续三年ATE供应商满意度第一
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: VLSI  超大规模集成电路  测试  系统公司  ATE  供应商  满意度 
描述:系统公司近日宣布:根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高。并且在世界十佳测试与材料加工设备公司中排名第四。[第一段]