检索结果相关分组
- 科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： systems公司 Sun公司 测试系统 自动测试设备 微处理器芯片 SPARC 高速芯片 系统使用
- 描述：开发。[第一段]
- 科利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
- 作者：王明伟 来源：国外电子测量技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 新潮流 测试系统 低成本 半导体工业 生产商 解决方案 经济化 产品测试 技术发展 测试设备
- 描述：科利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
- 科利登(Credence)公司混合信号测试系统
- 作者：暂无 来源：电子产品世界 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 混合信号测试 测试系统 电子器件 测试设备 提高成品率 器件测试 电子芯片 测试成本 集成电路 测试要求
- 描述：科利登(Credence)公司混合信号测试系统
- ATE巨头科利登掀起测试行业新高潮
- 作者：Peter Wu Mike Evon 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试平台 ATE 行业 科利登公司 高潮 掀起 SEMI 中国市场 中国用户 总经理
- 描述：采访记录。
- 科利登推出Sapphire—D10测试解决方案
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试解决方案 科利登系统公司 微控制器 混合信号 显示驱动 e系列 多功能 消费类 封装
- 描述：科利登系统公司（Credence）日前宣布，推出Sapphire系列的新成员Sapphire-D10。该系统是一款创新、高产能、多功能的圆片和封装测试解决方案，特别为微控制器、无线基带、显示驱动
- Atmel利用科利登的ASL3000RF^TM无线测试系统
- 作者：暂无 来源：集成电路应用 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 解决方案 测试系统 性能 射频芯片 开发团队 灵活度 科罗拉多 开发时间 分支机构 无线测试
- 描述：科利登系统有限公司近日宣布:Atmel公司购买了ASL 3000RF系统作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件
- Atmel采用科利登无线测试系统实现高效率
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 无线测试 测试解决方案 无线器件 高效率 射频芯片 ASL3000 Atmel公司 分支机构 团队 工程开发
- 描述：科利登公司近日宣布，Atmel公司选用ASL3000RF系统作为其测试解决方案。由此，Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件和应用的射频芯片较低
- 科利登新推出的Sapphire D-40测试平台结合其MV
- 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试平台 测试能力 射频 RF 测试解决方案 Zigbee 半导体工业 WiMax 有限公司 测试选件
- 描述：pphire D系列的测试能力。[第一段]
- 科利登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试解
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2005 文献类型 ：期刊文章
- 描述：以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。[第一段]
- Ikanos选择科利登的Octet测试系统
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 Ikanos通讯公司 Octet测试系统 数字信号处理
- 描述：Ikanos选择科利登的Octet测试系统