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新型GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章
描述:新型GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
新型GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 成品率  掩模  测试解决方案  系统定位  集成电路  量产时间  物理分析  供应商  问题  产品 
描述:正,从而降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
推出完整的设计纠错和验证解决方案
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统公司  设计纠错  验证  Verity系统  芯片 
描述:推出完整的设计纠错和验证解决方案
(Credence)与蔚华科技合并台湾业务
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Integration  合并  科技  系统公司  业务  股份有限公司  测试解决方案  半导体行业  技术整合  测试设备  集中培训  台湾地区  供应商  人力 
描述:进一步致力于登在台湾地区用户的支持。
新设工程培训中心,继续得到用户认可
作者:暂无 来源:电子产品世界 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 培训中心  系统公司  工程  认可  用户  自动测试仪器  半导体产品  SOC测试  首席执行官  工业大学  特性分析  混合信号  产业市场  测试设备  实践经验  中国  总裁 
描述:中国的支持力度。非常荣幸能向这所顶尖大学提供测试设备,让学生获得自动测试仪器领域的实践经验。”
(Credence)和Cadence合作验证加快良率
作者:暂无 来源:半导体行业 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Cadence  验证  合作  系统公司  诊断  测试平台  Test  测试向量  捕获数 
描述:adence Encounter Diaqnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据,[第一段]
通过战略性收购扩充核心市场
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 市场  扩充  收购  公司  总经理  亚洲区  总裁 
描述:(Credence)公司日前在上海举办媒体答谢会,亚洲区营运总经理兼公司副总裁Mike Evon回顾了2000~2004年公司的发展状况。[第一段]
ELMOS签署了购买多台Piranha系统协议
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 签署  购买  产品线  合作伙伴  公司  需求  协议  ha系统  器件  平台 
描述:公司日前宣布,ELMOS半导体签署了购买多台Piranha系统的协议。作为的长期合作伙伴,ELMOS选择Piranha是因为该系统能够满足公司对支持其整个汽车器件产品线测试
GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率问题
作者:暂无 来源:今日电子 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 成品率  步进扫描  图像叠加  掩模  系统定位  集成电路  量产时间  问题  产品  加工成本 
描述:效和稳固。GlobalScan-Ⅰ支持多种物镜选件,采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。
完备失效分析实验室落户威盛
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 威盛电子股份有限公司  分析实验室  失效  完备  设计公司  公司  台湾地区  特征分析  生产线  购买 
描述:公司日前宣布威盛电子股份有限公司成为台湾地区首家从购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无生产线的芯片设计公司)。[第一段]