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器件
测试
Sapphire
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半导体行业
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根据【检索词:全球有超过150套的科利登的3.2Gbps测试设备用于高速】搜索到相关结果
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条
新型
科
利
登
GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
新型
科
利
登
GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
新型
科
利
登
GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
成品率
掩模
测试
解决方案
系统定位
集成电路
量产时间
物理分析
供应商
问题
产品
描述:
正,从而降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
科
利
登
推出完整的设计纠错和验证解决方案
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统公司
设计纠错
验证
Verity系统
芯片
描述:
科
利
登
推出完整的设计纠错和验证解决方案
科
利
登
(Credence)与蔚华科技合并台湾业务
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Integration
合并
科技
科
利
登
系统公司
业务
股份有限公司
测试
解决方案
半导体行业
技术整合
测试
设备
集中培训
台湾地区
供应商
人力
描述:
进一步致力于
科
利
登在台湾地区用户的支持。
科
利
登
新设工程培训中心,继续得到用户认可
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
培训中心
科
利
登
系统公司
工程
认可
用户
自动测试仪器
半导体产品
SOC
测试
首席执行官
工业大学
特性分析
混合信号
产业市场
测试
设备
实践经验
中国
总裁
描述:
中国的支持力度。非常荣幸能向这所顶尖大学提供
测试
设备
,让学生获得自动测试仪器领域的实践经验。”
科
利
登
(Credence)和Cadence合作验证加快良率
作者:
暂无
来源:
半导体行业
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Cadence
验证
合作
科
利
登
系统公司
诊断
测试
平台
Test
测试
向量
捕获数
描述:
adence Encounter Diaqnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据,[第一段]
科
利
登
通过战略性收购扩充核心市场
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
市场
扩充
收购
公司
总经理
亚洲区
总裁
描述:
科
利
登
(Credence)公司日前在上海举办媒体答谢会,亚洲区营运总经理兼公司副总裁Mike Evon回顾了2000~2004年公司的发展状况。[第一段]
ELMOS签署了购买多台
科
利
登
Piranha系统协议
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
签署
购买
产品线
合作伙伴
科
利
登
公司
需求
协议
ha系统
器件
平台
描述:
科
利
登
公司日前宣布,ELMOS半导体签署了购买多台
科
利
登
Piranha系统的协议。作为
科
利
登
的长期合作伙伴,ELMOS选择Piranha是因为该系统能够满足公司对支持其整个汽车器件产品线
测试
科
利
登
GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率问题
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
成品率
步进扫描
图像叠加
掩模
系统定位
集成电路
量产时间
问题
产品
加工成本
描述:
效和稳固。GlobalScan-Ⅰ支持多种物镜选件,采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。
科
利
登
完备失效分析实验室落户威盛
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
威盛电子股份有限公司
分析实验室
失效
完备
设计公司
科
利
登
公司
台湾地区
特征分析
生产线
购买
描述:
科
利
登
公司日前宣布威盛电子股份有限公司成为台湾地区首家从
科
利
登
购买整套
用于
设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无生产线的芯片设计公司)。[第一段]
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