检索结果相关分组
- 科利登推出具有6．4G bps测试能力的Sapphires
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试系统 测试能力 自动测试设备 科利登系统公司 Sun公司 4G 微处理器芯片
- 描述：度的功能测试设备，它主要用于调试和测试超过6．4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
- 科利登发布D-6432DFT测试解决方案，帮助用户满足不断
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2007 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试解决方案 高数据速率 Systems 用户 半导体工业 微处理器 测试平台 供应商
- 描述：件。该设备的推出再次强化了科利登市场领先的Sapphire测试平台。[第一段]
- 科利登提供从设计到生产全套的测试解决方案
- 作者：暂无 来源：今日电子 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 集成电路 测试技术 系统级芯片 嵌入式温度稳定技术 Personal Kalos 2 ASL 3000RF
- 描述：。为了应对现代SoC、混合信号、无线和闪存装置等方面的测试挑战,满足半导体工业测试范围日益扩大的需要,他们通过整合贯穿设计、验证、生产步骤的测试方案,正在改变半导体生产的未来。其测试系统被业界领先的整合器件
- Zetex半导体选择科利登的ASL3000测试其类型广泛的
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： ASL3000 混合信号 拟和 科利登系统公司 类型 测试解决方案 集成电路器件 美国加州 半导体业 测试成本 分立器件 产品市场 测试方案 供应商 设计
- 描述：说：“Zetex设计并制造分立器件和集成电路器件用于通讯、消费、汽车和工业产品市场。我们的产品需要采用成本最低的高质量的测试方案。
- 科利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
- 作者：王明伟 来源：国外电子测量技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 新潮流 测试系统 低成本 半导体工业 生产商 解决方案 经济化 产品测试 技术发展 测试设备
- 描述：科利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
- ATE巨头科利登掀起测试行业新高潮
- 作者：Peter Wu Mike Evon 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试平台 ATE 行业 科利登公司 高潮 掀起 SEMI 中国市场 中国用户 总经理
- 描述：采访记录。
- Silicon Image购买了科利登Sapphire测试
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Silicon Image 电子器件 测试系统 消费类 购买 科利登系统公司 gigabit 一代 测试解决方案 半导体工业 测试平台 有限公司 数据传输 供应商 存储器 代码
- 描述：些解决方案用于强数宇媒体的数据传输和存储。
- 科利登推出Sapphire—D10测试解决方案
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试解决方案 科利登系统公司 微控制器 混合信号 显示驱动 e系列 多功能 消费类 封装
- 描述：科利登系统公司（Credence）日前宣布，推出Sapphire系列的新成员Sapphire-D10。该系统是一款创新、高产能、多功能的圆片和封装测试解决方案，特别为微控制器、无线基带、显示驱动
- 科利登新推出的Sapphire D-40测试平台结合其MV
- 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试平台 测试能力 射频 RF 测试解决方案 Zigbee 半导体工业 WiMax 有限公司 测试选件
- 描述：pphire D系列的测试能力。[第一段]
- 科利登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试解
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2005 文献类型 ：期刊文章
- 描述：以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。[第一段]