检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(1068)
报纸
(826)
会议论文
(26)
学位论文
(20)
图书
(13)
按栏目分组
历史名人
(1763)
地方文献
(58)
地方风物
(52)
宗教集要
(33)
非遗保护
(30)
红色文化
(6)
才乡教育
(6)
文化溯源
(5)
按年份分组
2013
(116)
2007
(81)
2004
(85)
2003
(45)
2002
(22)
1989
(17)
1988
(21)
1987
(20)
1985
(18)
1983
(13)
按来源分组
中国集成电路
(18)
集成电路应用
(12)
矿业工程
(6)
金属矿山
(2)
国外金属矿采矿
(2)
国外选矿技术快报
(1)
国内外选矿快报
(1)
矿床地质
(1)
现代材料动态
(1)
有色金属(矿山部分)
(1)
相关搜索词
多金属矿石
天井钻机
分层充填采矿法
地下矿山
套期保值
变质作用
发展
高品位铜矿石
铜钼矿床
半导体工业
冶炼厂
测定
地下矿
多金属硫化矿
公司
半导体生产
伦理
器件
科利登公司
失效分析
Kalos
器件测试
品位
Raytheon公司
SoC芯片
充填采矿法
孔子
含砷黄铁矿
出售
首页
>
根据【检索词:瑞典布利登公司分层充填采矿法的发展和应用(考察报告)】搜索到相关结果
1953
条
巴洛特
利
登
时代周刊封面
作者:
暂无
来源:
淄博晚报
年份:
2012
文献类型 :
报纸
描述:
晚报讯巴洛特
利
登
上了美国最新一期《时代》周刊的封面,成为继梅西之后、历史上第二个上此封面的足球运动员,“巴神”的影响力可见一斑。 《时代》周刊共有美国、亚洲、欧洲、南太平洋四个版本,“巴神”此次
登
科
利
登
:成就测试帝国
作者:
安勇龙
来源:
电子经理世界
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利
登
:成就测试帝国
科
利
登
Sapphire D-10系统获奖
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
获奖
award
有限公司
Best
Test
测试
描述:
科
利
登
系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳测试奖)奖项。[第一段]
科
利
登
跻身ATE塔尖行列
作者:
东郭
来源:
电子设计应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体行业
科
利
登
公司
ATE
IC
SoC
测试
ASL1000
ASL3000RF
市场
描述:
科
利
登
跻身ATE塔尖行列
上海新
利
登
机械有限公司
作者:
暂无
来源:
建筑机械化
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
建筑工程机械
人力资源理念
电传网
施工单位
停车设备
工程机械设备
升降式
上海地铁
东方广场
首都机场
描述:
上海新
利
登
机械有限公司
科
利
登
发布D-6432DFT测试解决方案
作者:
暂无
来源:
电子测试
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试解决方案
Systems
半导体设计
微处理器
供应商
性价比
器件
描述:
半导体设计、测试解决方案的供应商科
利
登
系统有限公司(Credence Systems Corporation)推出业界性价比最高、性能最为出众的解决方案Sapphire D-6432DFT,用于测试
科
利
登
最新推出Sapphire
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试解决方案
有限公司
半导体材料
半导体工业
美国加州
供应商
e系列
系统
描述:
来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息,为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科
利
登
系统有限公司在美西半导体材料与设备展(Semicon West)上展示了该公司领先业界
科
利
登
推出新型测试系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
推出
Kalos
集成电路测试系统
Personal
科
利
登
系统
公司
非挥发性存储器
测试能力
存储器件
软件工具
嵌入式
全兼容
硬件
描述:
生产用测试系统Kalos 2和工程测试系统Personal Kalos 2完全兼容。
科
利
登
:立志成为中国ATE第一
作者:
胡芃
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体工业
科
利
登
公司
中国
ATE
市场占有率
描述:
05重点展示其新推出的几款新产品。为了让读者更加了解该公司,记者特意采访了科
利
登
公司
资深副总裁、主管全球运作的BartFreedman先生,现将采访内容整理出来,以飨读者。
威盛电子选用科
利
登
解决方案
作者:
刘林发
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
威盛电子股份有限公司
设计
公司
分析实验室
台湾地区
特征分析
Inc
生产线
购买
描述:
科
利
登
系统有限公司近日宣布威盛电子股份有限公司 (VIA Technologies,Inc.)成为台湾地区首家从科
利
登
购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无
首页
上一页
6
7
8
9
10
11
12
13
14
下一页
尾页