检索结果相关分组
- 科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： systems公司 Sun公司 测试系统 自动测试设备 微处理器芯片 SPARC 高速芯片 系统使用
- 描述：开发。[第一段]
- Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 经济化 革新 测试 电子产品 电池寿命 操作性能 图象质量 制造商 消费类
- 描述：Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
- 科利登与蔚华科技合并台湾业务
- 作者：刘林发 来源：电子与封装 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Integration 合并 科技 科利登系统公司 业务 股份有限公司 测试解决方案 半导体行业 技术整合 测试设备 集中培训 台湾地区 供应商 人力
- 描述：务,从而进一步致力于对科利登在台湾地区的用户的支持。
- 科利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
- 作者：王明伟 来源：国外电子测量技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 新潮流 测试系统 低成本 半导体工业 生产商 解决方案 经济化 产品测试 技术发展 测试设备
- 描述：科利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
- 科利登SZ M3650系统得到汽车半导体厂商的青睐
- 作者：暂无 来源：电子产品世界 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 半导体 汽车工业 综合测试系统 气动踏板 开发应用 AMIS 安全气囊 并行测试 ASIC 精度测试
- 描述：科利登SZ M3650系统得到汽车半导体厂商的青睐
- 科利登(Credence)公司混合信号测试系统
- 作者：暂无 来源：电子产品世界 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 混合信号测试 测试系统 电子器件 测试设备 提高成品率 器件测试 电子芯片 测试成本 集成电路 测试要求
- 描述：科利登(Credence)公司混合信号测试系统
- ATE巨头科利登掀起测试行业新高潮
- 作者：Peter Wu Mike Evon 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试平台 ATE 行业 科利登公司 高潮 掀起 SEMI 中国市场 中国用户 总经理
- 描述：采访记录。
- 科利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
- 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统有限公司 测试解决方案 测量系统 半导体工业 美国加州 供应商
- 描述：2006年2月10日，来自美国加州苗必达市（Milpitas）的消息：为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——科利登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获
- 科利登系统（上海）有限公司正式成立
- 作者：暂无 来源：电子产品世界 年份：2004 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登系统（上海）有限公司正式成立
- 科利登系统公司(Credence System)将并购恩普
- 作者：暂无 来源：电子产品世界 年份：2004 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登系统公司(Credence System)将并购恩普