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相关搜索词
合并
半导体工业
全球范围
半导体行业
吞吐量
公司
半导体生产
发展
供应商
VLSI公司
器件
科利登公司
失效分析
Kalos
器件测试
Raytheon公司
SoC芯片
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中国
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测试
半导体材料
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威盛电子股份有限公司
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根据【检索词:科利登公司连续第五年取得VLSI Research十佳客户】搜索到相关结果
777
条
科
利
登
GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统定位
成品率
失效分析
软件设计
长工作距离
新型集成电路
失效模式
切换系统
竞争优势
制造工艺
描述:
探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计用于与生产测试设备对接。该系统与
科
利
登
的EmiScope系统(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope
科
利
登
测试系统被Silicon Image采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
测试系统
科
利
登
系统
公司
gigabit
解决方案
测试平台
电子器件
有限公司
数据传输
数字媒体
存储器
消费类
供应商
半导体
描述:
科
利
登
系统
公司
13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire测试系统作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键测试平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
威盛电子将
科
利
登
(Credence)的Octet作为首选芯
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试平台
电子
生产测试
计算机芯片
测试时间
测试系统
可配置
芯片组
股份有限公司
系统
公司
描述:
科
利
登
系统
公司
最近宣布,威盛电子股份有限公司已经将
科
利
登
公司
的可配置 SOC 芯片测试系统用作该公司计算机芯片组的量产测试。Octect 高效的测试时间及性能以其比竞争对手更为低廉的全面测试成本
Zetex半导体选择
科
利
登
的ASL3000测试其类型广泛的
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
混合信号
拟和
科
利
登
系统
公司
类型
测试解决方案
集成电路器件
美国加州
半导体业
测试成本
分立器件
产品市场
测试方案
供应商
设计
描述:
说:“Zetex设计并制造分立器件和集成电路器件用于通讯、消费、汽车和工业产品市场。我们的产品需要采用成本最低的高质量的测试方案。
科
利
登
与北方工大合作成立IC工程培训中心
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
培训中心
工程
合作
北方
科
利
登
系统
公司
IC
半导体产品
SoC测试
工业大学
特性分析
描述:
科
利
登
系统
公司
日前宣布与北方工业大学合作建立培训中心,为工程类学生提供培训。培训中心最初将着重于半导体产品的验证及特性分析,然后会向混合信号、射频、SoC测试等领域扩展。[第一段]
科
利
登
Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
systems
公司
Sun
公司
测试系统
自动测试设备
微处理器芯片
SPARC
高速芯片
系统使用
描述:
开发。[第一段]
Sapphire D-10来自
科
利
登
的测试经济化革新
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
经济化
革新
测试
电子产品
电池寿命
操作性能
图象质量
制造商
消费类
描述:
Sapphire D-10来自
科
利
登
的测试经济化革新
科
利
登
与蔚华科技合并台湾业务
作者:
刘林发
来源:
电子与封装
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Integration
合并
科技
科
利
登
系统
公司
业务
股份有限公司
测试解决方案
半导体行业
技术整合
测试设备
集中培训
台湾地区
供应商
人力
描述:
务,从而进一步致力于对
科
利
登在台湾地区的用户的支持。
科
利
登
引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
作者:
王明伟
来源:
国外电子测量技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
新潮流
测试系统
低成本
半导体工业
生产商
解决方案
经济化
产品测试
技术发展
测试设备
描述:
科
利
登
引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
科
利
登
SZ M3650系统得到汽车半导体厂商的青睐
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体
汽车工业
综合测试系统
气动踏板
开发应用
AMIS
安全气囊
并行测试
ASIC
精度测试
描述:
科
利
登
SZ M3650系统得到汽车半导体厂商的青睐
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