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用于消费类器件测试的解决方案——Sapphire D-10
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 器件测试  并行测试  特性分析  测试系统  专用芯片  高密度  测试能力  移动电话  高集成  数字仪器 
描述:IC市场趋势多元化应用驱动芯片量产消费类电器及产品的制造商通过提高产能应对客户的需求。现在的便携电子产品需要更长的电池寿命;电话、PDA整合多种功能;玩具和游戏要求更好的图象质量和操作性能;基于铝铁
Credence Systems推出新的桌面测试系统
作者:暂无 来源:电子测试 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统公司  桌面测试系统  PersonalKalos2  非易失性存储器 
描述:Credence Systems推出新的桌面测试系统
测试效应是过程依赖还是内容依赖
作者:丁静 刘湍丽 刘希平  来源:心理科学 年份:2012 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试效应  测验间隔  过程依赖  内容依赖 
描述:结果:间隔5分钟和2天时,没有出现测试效应;间隔1周时出现了测试效应。可见1周是本实验条件下测试效应比较敏感的时程条件。实验2的目的是考察测试效应是过程依赖还是内容依赖。根据实验1的结果,选择1周时
科利登sapphire D-10测试系统销往欧洲领先的测试
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试实验室  测试系统  欧洲  混合信号  多媒体  高电压  芯片  视频 
描述:科利登系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台SapphireTM D-10测试系统。该测试实验室将使用这些先进的测试系统来测试多媒体音,视频数字和混合
科利登具有6.4G速度测试能力的Sapphire S测试系统
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:自动测试设备。D-6436是一款高性能高通道密度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gb·ps的高速芯片。Sun公司将把该系统使用于其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一
科利登系统公司荣获英特尔的优秀质量供应商奖
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统公司  供应商  质量  混合信号测试  英特尔公司  3月15日  美国加州  测试系统  数字和  服务  产品  市场 
描述:其他25家公司已于3月15日在加州Burlingame举行的颁奖会上接受这一荣誉。
IC测试供应巨头科利登落户申城
作者:李冰心  来源:上海经济报 年份:2004 文献类型 :报纸
描述:集团。作为唯一能从设计到制 造各个阶段测试难题为客户提供最佳 解决方案的ATE供应商,科利登为半 导体
ELMOS选择科利登FALCON系统测试汽车电子器件
作者:暂无 来源:电子资讯时报 年份:2007 文献类型 :报纸
描述:【本报讯】汽车半导体设计对于成本 的要求日益敏感,并日渐关系到企业未 来业务的成败。目前,德国的半导体制 造商ELMOS已选择使用科利登FAL- CON GLX系统,以达成具高可扩展性、 成本优势和灵活性的业界领先地位。此 前,ELMOS己经采用了科利登的FAL- CON Piranha系统。本次合
航母出海应是厂方测试 舰载机或进行海上“母子会”
作者:暂无 来源:烟台晚报 年份:2014 文献类型 :报纸
描述:航母出海应是厂方测试 舰载机或进行海上“母子会”
专家说法 这次航母出海 应是厂方测试 形成战斗力还
作者:暂无 来源:春城晚报 年份:2014 文献类型 :报纸
描述:专家说法 这次航母出海 应是厂方测试 形成战斗力还