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测试
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条
吴欢:CIO应是多面手
作者:
尚昭
来源:
中国计算机用户
年份:
2008
文献类型 :
期刊文章
关键词:
信息化过程
美国企业
业务流程
多面手
核心竞争力
业务需求
角色
系统
业务部门
软件
描述:
对一位成功的CIO来说,没有什么事情比他丰富的经历更宝贵,也更显魅力。迪信通的信息化掌门人吴欢正是这样一个角色。
科利登在2006年度SEMICON China展会上展出S
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
科利登
系统
有限公司
SEMICON
China展会
Sapphire
D
10
失效分析
描述:
科利登
系统
有限公司(Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了2006年度SEMICON China展会。科利登在SEMICON China展会上
EmiSchope-II
系统
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
EmiSchope
II
系统
科利登子公司
固态浸人透镜
IC设计
描述:
EmiSchope-II
系统
科利登跻身ATE塔尖行列
作者:
东郭
来源:
电子设计应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体行业
科利登公司
ATE
IC
SoC
测试
ASL1000
ASL3000RF
市场
描述:
科利登跻身ATE塔尖行列
王安石巧对主考官
作者:
杨晓苍
来源:
小学生之友
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
王安石
临川
少年
江西
测试
州府
唐宋八大家
听后
宝塔
文学家
描述:
王安石巧对主考官
科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
集成电路
掩模
量产时间
诊断系统
测试
调试方法
降低
产品
加工成本
遗漏
描述:
科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此
系统
能够鉴别出通常被
测试
失效分析和调试方法遗漏的失效源,从而实现快速的设计修正,降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
科利登:立志成为全球最大的ATE公司
作者:
胡芃
来源:
中国集成电路
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体产业
测试
集成电路设计
中国市场
设备公司
中国公司
记者
发展
全球
上海
描述:
China 2004期间,记者访问了科利登中国公司总经理Steve Chen和科利登公司产品部经理Thoms M.Trexler以下是访谈内容。
测试
重点我国航母出海应是厂方
测试
作者:
暂无
来源:
三秦都市报
年份:
2014
文献类型 :
报纸
描述:
测试
重点我国航母出海应是厂方
测试
DA
测试
公司应用科利登Quartet One来提高
测试
能力
作者:
暂无
来源:
无线电工程
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登
系统
公司
DA
测试
公司
QuartetOne
SoC芯片
测试
能力
描述:
DA
测试
公司应用科利登Quartet One来提高
测试
能力
个人征信
系统
应是一个“独立”
系统
作者:
暂无
来源:
海口晚报
年份:
2014
文献类型 :
报纸
描述:
个人征信
系统
应是一个“独立”
系统
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