检索结果相关分组
吴欢:CIO应是多面手
作者:尚昭  来源:中国计算机用户 年份:2008 文献类型 :期刊文章 关键词: 信息化过程  美国企业  业务流程  多面手  核心竞争力  业务需求  角色  系统  业务部门  软件 
描述:对一位成功的CIO来说,没有什么事情比他丰富的经历更宝贵,也更显魅力。迪信通的信息化掌门人吴欢正是这样一个角色。
科利登在2006年度SEMICON China展会上展出S
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统  科利登系统有限公司  SEMICON  China展会  Sapphire  D  10  失效分析 
描述:科利登系统有限公司(Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了2006年度SEMICON China展会。科利登在SEMICON China展会上
EmiSchope-II系统
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: EmiSchope  II系统  科利登子公司  固态浸人透镜  IC设计 
描述:EmiSchope-II系统
科利登跻身ATE塔尖行列
作者:东郭  来源:电子设计应用 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 半导体行业  科利登公司  ATE  IC  SoC  测试  ASL1000  ASL3000RF  市场 
描述:科利登跻身ATE塔尖行列
王安石巧对主考官
作者:杨晓苍  来源:小学生之友 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 王安石  临川  少年  江西  测试  州府  唐宋八大家  听后  宝塔  文学家 
描述:王安石巧对主考官
科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 集成电路  掩模  量产时间  诊断系统  测试  调试方法  降低  产品  加工成本  遗漏 
描述:科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源,从而实现快速的设计修正,降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
科利登:立志成为全球最大的ATE公司
作者:胡芃  来源:中国集成电路 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 半导体产业  测试  集成电路设计  中国市场  设备公司  中国公司  记者  发展  全球  上海 
描述:China 2004期间,记者访问了科利登中国公司总经理Steve Chen和科利登公司产品部经理Thoms M.Trexler以下是访谈内容。
测试重点我国航母出海应是厂方测试
作者:暂无 来源:三秦都市报 年份:2014 文献类型 :报纸
描述:测试重点我国航母出海应是厂方测试
DA测试公司应用科利登Quartet One来提高测试能力
作者:暂无 来源:无线电工程 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统公司  DA测试公司  QuartetOne  SoC芯片  测试能力 
描述:DA测试公司应用科利登Quartet One来提高测试能力
个人征信系统应是一个“独立”系统
作者:暂无 来源:海口晚报 年份:2014 文献类型 :报纸
描述:个人征信系统应是一个“独立”系统