检索结果相关分组
整合优势资源 突破技术创新——访系统公司总裁兼首席
作者:陆彦  来源:电子工业专用设备 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统公司  David  首席执行官  技术创新  优势资源  总裁  整合  测试解决方案  测试成本 
描述:并了台湾的业务,这一系列的重大决策,已经及将会给带来怎样的发展呢?我们就此采访了系统公司的总裁兼首席执行官DavidA.Ranhoff。
放眼亚太 倾情中国——访系统公司中国区总经理陈绪先生
作者:黄刚  来源:电子工业专用设备 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 中国  系统公司  陈绪  人物采访  半导体产业  市场  测试服务供应商 
描述:,今年的情况又怎么呢?本刊记者专访了国际著名测试厂商credence()中国区总经理陈绪先生。
公司把IMS Vanguard系列延伸增长快速的消费
作者:暂无 来源:电子产品世界 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 消费电子  工程验证  优化设计  逻辑集成电路  测试系统  软件工具  特性测试  工程实验室  实时处理  图形接口 
描述:公司把IMS Vanguard系列延伸增长快速的消费
为不断降低测试成本而创新——访公司中国区总经理陈绪先生
作者:胡芃  来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  总经理  测试成本  中国  创新 
描述:为不断降低测试成本而创新——访公司中国区总经理陈绪先生
公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  MSVanguard系列  半导体行业  生产测试  逻辑集成电路 
描述:公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
获“最佳测试奖”
作者:暂无 来源:上海商报 年份:2006 文献类型 :报纸
描述:  本报讯  近日,来自美国加州苗必达市的消息称:系统有限公司的Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“最佳测试奖”奖项。 据了解,Sapphire
:成就测试帝国
作者:安勇龙  来源:电子经理世界 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述::成就测试帝国
Sapphire D-10系统获奖
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统  获奖  award  有限公司  Best  Test  测试 
描述:系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳测试奖)奖项。[第一段]
跻身ATE塔尖行列
作者:东郭  来源:电子设计应用 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 半导体行业  公司  ATE  IC  SoC  测试  ASL1000  ASL3000RF  市场 
描述:跻身ATE塔尖行列
发布D-6432DFT测试解决方案
作者:暂无 来源:电子测试 年份:2007 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试解决方案  Systems  半导体设计  微处理器  供应商  性价比  器件 
描述:半导体设计、测试解决方案的供应商科系统有限公司(Credence Systems Corporation)推出业界性价比最高、性能最为出众的解决方案Sapphire D-6432DFT,用于测试