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相关搜索词
SoC器件
测试
图象质量
器件
半导体材料
吞吐量
半导体行业
科利登公司
systems公司
Sapphire
Raytheon公司
多媒体
ASL1000
存储器件
Octet系统
半导体工业
存储器
多功能
低功耗
复杂度
增强型
器件测试
分支机构
团队
Octet测试系统
Vanguard测试系统
发展
XDSL
供应商
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根据【检索词:矽格定购了多台科利登Sapphire测试系统】搜索到相关结果
551
条
科
利
登
:增强型SZ Falcon
测试
系统
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
增强型
串行总线
数字信号处理
任意波形发生器
数据传输
模拟波形
混合信号
测试
程序开发
测试
要求
测试
系统
描述:
科
利
登
:增强型SZ Falcon
测试
系统
科
利
登
测试
系统
被Silicon Image采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
测试
系统
科
利
登
系统
公司
gigabit
解决方案
测试
平台
电子器件
有限公司
数据传输
数字媒体
存储器
消费类
供应商
半导体
描述:
科
利
登
系统
公司13前宣布Silicon Image有限公司购买了
Sapphire
测试
系统
作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键
测试
平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
科
利
登
(Credence)公司混合信号
测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
混合信号
测试
测试
系统
电子器件
测试
设备
提高成品率
器件
测试
电子芯片
测试
成本
集成电路
测试
要求
描述:
科
利
登
(Credence)公司混合信号
测试
系统
科
利
登
系统
荣获《
测试
与测量世界》“Bestin Test
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
有限公司
测试
解决方案
测量
系统
半导体工业
美国加州
供应商
描述:
2006年2月10日,来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息:为世界半导体工业提供从设计到生产
测试
解决方案的领先供应商——
科
利
登
系统
有限公司日前宣布其S apphire D-10
系统
荣获
Atmel利用
科
利
登
的ASL3000RF^TM无线
测试
系统
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
解决方案
测试
系统
性能
射频芯片
开发团队
灵活度
科罗拉多
开发时间
分支机构
无线
测试
描述:
科
利
登
系统
有限公司近日宣布:Atmel公司购买了ASL 3000RF
系统
作为其
测试
解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件
Atmel采用
科
利
登
无线
测试
系统
实现高效率
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
无线
测试
测试
解决方案
无线器件
高效率
射频芯片
ASL3000
Atmel公司
分支机构
团队
工程开发
描述:
科
利
登
公司近日宣布,Atmel公司选用ASL3000RF
系统
作为其
测试
解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件和应用的射频芯片较低
Ikanos选择
科
利
登
的Octet
测试
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
公司
Ikanos通讯公司
Octet
测试
系统
数字信号处理
描述:
Ikanos选择
科
利
登
的Octet
测试
系统
DMEA购买
科
利
登
IMS Vanguard
测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
DMEA工程实验室
IMS
Vanguard
测试
系统
科
利
登
公司
微处理器
描述:
DMEA购买
科
利
登
IMS Vanguard
测试
系统
Atmel利用
科
利
登
的ASL3000RFTM无线
测试
系统
实
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
无线
测试
ASL3000
测试
效率
WLAN
测试
解决方案
无线器件
测试
成本
分支机构
团队
工程开发
描述:
N器件市场提供了关键的节约
测试
成本的解决方案。
欧洲领先的
测试
实验室Microtec购买
多台
科
利
登
Sapp
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
频数字和混合信号芯片,以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]
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