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香港科技园运用科登的工具完善其诊断和特征分析能力
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 特征分析  科技园  分析能力  诊断  香港  Systems  工具  有限公司  CMOS  工程验证 
描述:登系统有限公司(Credence Systems Corporation,纳斯达克代码:CMOS)宣布:香港科技园(HKSTP)在其已有的一系列科登诊断、工程验证、特征分析及测试仪系统的基础
登新增端对端6.4Gbps高速芯片测试产品
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 芯片测试  高速  端对端  成本优势  测试选件  通道数量  参数分析  总线测试  IP技术 
描述:这些选件成为6.4Gbps的高速穿行总线测试的低成本解决方案。[第一段]
登连续三年获得VLSI用户满意度调查ATE供应商排名第一
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 用户满意度调查  供应商  VLSI  ATE  测试解决方案  自动测试设备  2005年  LSI公司  半导体行业  加工设备 
描述:全球半导体行业从设计到产品的测试解决方案厂商——科登系统(纳斯达克挂牌为CMOS)宣布:根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高,并且在世界十佳
登和Cadence合作验证加快良率诊断的新流程
作者:暂无 来源:集成电路应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Cadence  验证  合作  登系统公司  诊断  测试平台  Test  测试覆盖率  测试向量 
描述:adence Encounter Diagnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据。在90nm或者更先进的工艺设计中,使用该诊断流程能增加测试覆盖率,提高缺陷定位速度。[第一段]
日月光定购多台科登的SoC测试系统Octet
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: SoC测试  半导体测试  生产测试  器件  光测  系统性能  测试能力  纳斯达克  股票  量产 
描述:统性能和测试能力,可以满足下一代器件技术,对测试系统测试容量和范围的要求。
登公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 登公司  MSVanguard系列  半导体行业  生产测试  逻辑集成电路 
描述:登公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
Micrel购买科登ASL系统用于混合信号测试
作者:暂无 来源:集成电路应用 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: Micrel公司  登系统公司  混合信号测试  ASL3000  ASL1000 
描述:Micrel购买科登ASL系统用于混合信号测试
登展示降低测试成本和加快产品量产时间的解决方案:SEM
作者:暂无 来源:集成电路应用 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 登系统公司  中国市场  测试成本  量产时间  解决方案  ASL  3000RF 
描述:登展示降低测试成本和加快产品量产时间的解决方案:SEM
登端对端6.4Gbps高速总线解决方案提供业界领先的性
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 高速总线  端对端  成本优势  测试选件  产品系列  有限公司  芯片测试  成本优化  验证分析 
描述:。[第一段]
登在IC China 2005展出注重芯片成本的高量产
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: China  测试系统  IC  成本  登系统公司  芯片  市场需求  多功能 
描述:为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求,科登系统公司在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China 2005展出Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10系统