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ELMOS签署了购买多台利登Piranha系统协议
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 签署  购买  产品线  合作伙伴  利登公司  需求  协议  ha系统  器件  平台 
描述:利登公司日前宣布,ELMOS半导体签署了购买多台利登Piranha系统的协议。作为利登的长期合作伙伴,ELMOS选择Piranha是因为该系统能够满足公司对支持其整个汽车器件产品线测试
Raytheon公司选用利登的IMS Electm系统测
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: Raytheon公司  IMSElectm系统  测试  逻辑集成电路 
描述:Raytheon公司选用利登的IMS Electm系统测
DA测试公司应用利登Quartet One来提高测试能力
作者:暂无 来源:无线电工程 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登系统公司  DA测试公司  QuartetOne  SoC芯片  测试能力 
描述:DA测试公司应用利登Quartet One来提高测试能力
Atmel利用利登的ASL3000RF^TM无线测试系统
作者:暂无 来源:集成电路应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 解决方案  测试系统  性能  射频芯片  开发团队  灵活度  科罗拉多  开发时间  分支机构  无线测试 
描述:利登系统有限公司近日宣布:Atmel公司购买了ASL 3000RF系统作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件
Atmel采用利登无线测试系统实现高效率
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 无线测试  测试解决方案  无线器件  高效率  射频芯片  ASL3000  Atmel公司  分支机构  团队  工程开发 
描述:利登公司近日宣布,Atmel公司选用ASL3000RF系统作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件和应用的射频芯片较低
利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 集成电路  掩模  量产时间  诊断系统  测试  调试方法  降低  产品  加工成本  遗漏 
描述:利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源,从而实现快速的设计修正,降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率问题
作者:暂无 来源:今日电子 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 成品率  步进扫描  图像叠加  掩模  系统定位  集成电路  量产时间  问题  产品  加工成本 
描述:效和稳固。GlobalScan-Ⅰ支持多种物镜选件,采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。
利登完备失效分析实验室落户威盛
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 威盛电子股份有限公司  分析实验室  失效  完备  设计公司  利登公司  台湾地区  特征分析  生产线  购买 
描述:利登公司日前宣布威盛电子股份有限公司成为台湾地区首家从利登购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无生产线的芯片设计公司)。[第一段]
Micrel购买多台利登ASL 3000和ASL 100
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 混合信号测试  Micrel公司  利登ASL3000  ASL1000系统 
描述:Micrel购买多台利登ASL 3000和ASL 100
利登新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 模块化结构  SoC芯片  特性  无线应用  芯片尺寸  测试设备  工程验证  混合信号  复杂度 
描述:SoC芯片功能的不断增加,再加上芯片尺寸不断缩小,新材料和新工艺的引进,要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外,很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上,进一步增加了复杂度