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ELMOS选择FALCON系统测试汽车电子器件
作者:暂无 来源:电子资讯时报 年份:2007 文献类型 :报纸
描述:【本报讯】汽车半导体设计对于成本 的要求日益敏感,并日渐关系到企业未 来业务的成败。目前,德国的半导体制 造商ELMOS已选择使用FAL- CON GLX系统,以达成具高可扩展性、 成本优势
的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: Sun公司  测试系统  自动测试设备  systems公司  微处理器芯片  高速芯片  公司  高速接口 
描述:很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
:增强型SZ Falcon测试系统
作者:暂无 来源:今日电子 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 增强型  串行总线  数字信号处理  任意波形发生器  数据传输  模拟波形  混合信号  测试程序开发  测试要求  测试系统 
描述::增强型SZ Falcon测试系统
Zetex半导体购买多台ASL3000系统
作者:刘林发  来源:电子与封装 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: ASL3000  半导体  购买  系统公司  混合信号  测试成本  器件  拟和 
描述:系统公司日前宣布Zetex半导体购买了多台ASL3000系统用于其多种模拟和混合信号器件的测试。选择ASL3000可以帮助Zetex在降低测试成本的同时增加产能。
Raytheon公司选用的IMS Electra系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 逻辑集成电路  验证测试系统  多芯片模块  系统公司  性能可靠  系统测试  商业部  失效分析  测试工程  系统架构 
描述:系统公司近日宣布Raytheon 公司的太空和空运系统商业部已经购买了它们的 IMSElectra MX 工程验证测试系统。Raytheon 公司一直希望有一个功能明确,性能可靠的测试系统,能
测试系统被Silicon Image采用
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Silicon  Image  测试系统  系统公司  gigabit  解决方案  测试平台  电子器件  有限公司  数据传输  数字媒体  存储器  消费类  供应商  半导体 
描述:系统公司13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire测试系统作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键测试平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: systems公司  Sun公司  测试系统  自动测试设备  微处理器芯片  SPARC  高速芯片  系统使用 
描述:开发。[第一段]
SZ M3650系统得到汽车半导体厂商的青睐
作者:暂无 来源:电子产品世界 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 半导体  汽车工业  综合测试系统  气动踏板  开发应用  AMIS  安全气囊  并行测试  ASIC  精度测试 
描述:SZ M3650系统得到汽车半导体厂商的青睐
(Credence)公司混合信号测试系统
作者:暂无 来源:电子产品世界 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 混合信号测试  测试系统  电子器件  测试设备  提高成品率  器件测试  电子芯片  测试成本  集成电路  测试要求 
描述:(Credence)公司混合信号测试系统
系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统有限公司  测试解决方案  测量系统  半导体工业  美国加州  供应商 
描述:2006年2月10日,来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息:为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获