检索结果相关分组
- 物理设计纠错和验证完整解决方案 显著加快新品上市进程
- 作者：丁辉文 来源：中国集成电路 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 物理设计纠错 验证 半导体制造 硅片纠错 科利登公司
- 描述：术的快速发展与迅速变
- 科利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 设计纠错 验证 Verity系统 芯片
- 描述：科利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
- 科利登推出Sapphire—D10测试解决方案
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试解决方案 科利登系统公司 微控制器 混合信号 显示驱动 e系列 多功能 消费类 封装
- 描述：科利登系统公司（Credence）日前宣布，推出Sapphire系列的新成员Sapphire-D10。该系统是一款创新、高产能、多功能的圆片和封装测试解决方案，特别为微控制器、无线基带、显示驱动
- 科利登测试系统被Silicon Image采用
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Silicon Image 测试系统 科利登系统公司 gigabit 解决方案 测试平台 电子器件 有限公司 数据传输 数字媒体 存储器 消费类 供应商 半导体
- 描述：科利登系统公司13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire测试系统作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键测试平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案