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利登系统公司(Credence System)将并购恩普
作者:暂无 来源:电子产品世界 年份:2004 文献类型 :期刊文章
描述:利登系统公司(Credence System)将并购恩普
新型利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章
描述:新型利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
新型利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 成品率  掩模  测试解决方案  系统定位  集成电路  量产时间  物理分析  供应商  问题  产品 
描述:正,从而降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登系统公司  设计纠错  验证  Verity系统  芯片 
描述:利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
利登(Credence)与蔚华科技合并台湾业务
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Integration  合并  科技  利登系统公司  业务  股份有限公司  测试解决方案  半导体行业  技术整合  测试设备  集中培训  台湾地区  供应商  人力 
描述:进一步致力于利登在台湾地区用户的支持。
利登市场动作频频备受全球业界瞩目
作者:海菲  来源:电子与封装 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 全球  市场  利登系统公司  测试解决方案  半导体工业 
描述:世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供直商科利登系统公司近两个月来连续宣布三个市场动作,备受全球业界瞩目。[第一段]
利登新设工程培训中心,继续得到用户认可
作者:暂无 来源:电子产品世界 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 培训中心  利登系统公司  工程  认可  用户  自动测试仪器  半导体产品  SOC测试  首席执行官  工业大学  特性分析  混合信号  产业市场  测试设备  实践经验  中国  总裁 
描述:中国的支持力度。非常荣幸能向这所顶尖大学提供测试设备,让学生获得自动测试仪器领域的实践经验。”
利登(Credence)和Cadence合作验证加快良率
作者:暂无 来源:半导体行业 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Cadence  验证  合作  利登系统公司  诊断  测试平台  Test  测试向量  捕获数 
描述:adence Encounter Diaqnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据,[第一段]
利登通过战略性收购扩充核心市场
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 市场  扩充  收购  公司  总经理  亚洲区  总裁 
描述:利登(Credence)公司日前在上海举办媒体答谢会,亚洲区营运总经理兼公司副总裁Mike Evon回顾了2000~2004年公司的发展状况。[第一段]
利登推出Sapphire—D10测试解决方案
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试解决方案  利登系统公司  微控制器  混合信号  显示驱动  e系列  多功能  消费类  封装 
描述:利登系统公司(Credence)日前宣布,推出Sapphire系列的新成员Sapphire-D10。该系统是一款创新、高产能、多功能的圆片和封装测试解决方案,特别为微控制器、无线基带、显示驱动