检索结果相关分组
利登SEMICON展出Sapphire D-10系统
作者:杨振中  来源:电子资讯时报 年份:2006 文献类型 :报纸
描述:【杨振中/北京】半导体测试解决方案 主要供应商──利登(Credence)在刚刚 结束的“2006 SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析
第四届利登年度技术研讨会西安召开
作者:杨振中  来源:电子资讯时报 年份:2006 文献类型 :报纸
描述:全球知名半导体生产测 试解决方案供应商科利登系统公司(Cre- dence)于6月2日在中国西安举办了第四 届利登系列研讨年会。本年度的研讨会着 重讨论了有关ATE测试的各种主题,如IC 测试
IC测试供应巨头利登落户申城
作者:李冰心  来源:上海经济报 年份:2004 文献类型 :报纸
描述:全球自动测试仪器(ATE)制造业领 军企业利登(Credence)公司昨日正式 宣布在沪成立分公司。利登总部位 于美国加州,从1978年成立至今,公司 已发展成为分支机构点遍布15个国家 的跨国
利登任命Dave House为董事会新执行主席
作者:杨振中  来源:电子资讯时报 年份:2005 文献类型 :报纸
描述:[杨振中/北京]为世界 半导体工业提供从设计到生 产测试解决方案的领先供应 商──利登系统有限公司 日前宣布:在英特尔公司担 任22年经理职务的Dave House,被任命为利登董事 会
ELMOS选择利登FALCON系统测试汽车电子器件
作者:暂无 来源:电子资讯时报 年份:2007 文献类型 :报纸
描述:【本报讯】汽车半导体设计对于成本 的要求日益敏感,并日渐关系到企业未 来业务的成败。目前,德国的半导体制 造商ELMOS已选择使用利登FAL- CON GLX系统,以达成具高可扩展性、 成本优势
威盛电子采用利登实验室解决方案
作者:暂无 来源:电脑商报 年份:2014 文献类型 :报纸
描述:威盛电子采用利登实验室解决方案
齐: 美元不应是唯一通用货币
作者:暂无 来源:香港大公网 年份:2014 文献类型 :报纸
描述:齐: 美元不应是唯一通用货币
利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: Sun公司  测试系统  自动测试设备  systems公司  微处理器芯片  高速芯片  利登公司  高速接口 
描述:很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
利登新品提供先进的射频测试能力
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试能力  射频  Zigbee  利登公司  WiMax  测试选件  网络分析  测试平台  无线电话 
描述:利登公司近日宣布:在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
一生与一文--评汤显祖的《论辅臣臣疏》 兰州
作者:卢耀华  来源:秘书之友 年份:1998 文献类型 :期刊文章
描述:一生与一文--评汤显祖的《论辅臣臣疏》 兰州