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合作
分析能力
合力
加工成本
半导体工业
复杂度
中国市场
半导体生产
测试
半导体行业
器件
半导体材料
存储器件
威盛电子股份有限公司
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根据【检索词:科利登和Cadence合力加快良率诊断的新流程】搜索到相关结果
1556
条
科
利
登
展示降低测试成本和
加快
产品量产时间的解决方案:SEM
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统公司
中国市场
测试成本
量产时间
解决方案
ASL
3000RF
描述:
科
利
登
展示降低测试成本和
加快
产品量产时间的解决方案:SEM
科
利
登
公司简介
科
利
登
系统公司
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
公司简介
自动测试设备
美国加利福尼亚州
ISO9001认证
检测技术
测试设施
注册商标
测试验证
半导体生产
测试成本
描述:
科
利
登
公司简介
科
利
登
系统公司
科
利
登
新
聘资深专家加强公司领导团队力量
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
力量
专家
测试解决方案
半导体工业
首席执行官
全球范围
市场
供应商
描述:
现场运营和市场团队,集中于逐渐扩展
科
利
登在日本和台湾等主要市场领域的业务。[第一段]
科
利
登
获“最佳测试奖”
作者:
暂无
来源:
上海商报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
本报讯 近日,来自美国加州苗必达市的消息称:
科
利
登
系统有限公司的Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“最佳测试奖”奖项。 据了解,Sapphire
科
利
登
:成就测试帝国
作者:
安勇龙
来源:
电子经理世界
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利
登
:成就测试帝国
科
利
登
Sapphire D-10系统获奖
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
获奖
award
有限公司
Best
Test
测试
描述:
科
利
登
系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳测试奖)奖项。[第一段]
科
利
登
跻身ATE塔尖行列
作者:
东郭
来源:
电子设计应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体行业
科
利
登
公司
ATE
IC
SoC
测试
ASL1000
ASL3000RF
市场
描述:
科
利
登
跻身ATE塔尖行列
科
利
登
发布D-6432DFT测试解决方案
作者:
暂无
来源:
电子测试
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试解决方案
Systems
半导体设计
微处理器
供应商
性价比
器件
描述:
半导体设计、测试解决方案的供应商科
利
登
系统有限公司(Credence Systems Corporation)推出业界性价比最高、性能最为出众的解决方案Sapphire D-6432DFT,用于测试
科
利
登
最新推出Sapphire
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试解决方案
有限公司
半导体材料
半导体工业
美国加州
供应商
e系列
系统
描述:
来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息,为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科
利
登
系统有限公司在美西半导体材料与设备展(Semicon West)上展示了该公司领先业界
科
利
登
推出新型测试系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
推出
Kalos
集成电路测试系统
Personal
科
利
登
系统公司
非挥发性存储器
测试能力
存储器件
软件工具
嵌入式
全兼容
硬件
描述:
生产用测试系统Kalos 2和工程测试系统Personal Kalos 2完全兼容。
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