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Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: systems公司  Sun公司  测试系统  自动测试设备  微处理器芯片  SPARC  高速芯片  系统使用 
描述:开发。[第一段]
推出Sapphire-D10系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Sapphire  D10系统  封装  测试  集成电路  系统公司 
描述:高的并行能力。[第一段]
Raytheon公司选用的IMS Electm系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: Raytheon公司  IMSElectm系统  测试  逻辑集成电路 
描述:Raytheon公司选用的IMS Electm系统
sapphire D-10测试系统销往欧洲领先的测试
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试实验室  测试系统  欧洲  混合信号  多媒体  高电压  芯片  视频 
描述:系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台SapphireTM D-10测试系统。该测试实验室将使用这些先进的测试系统测试多媒体音,视频数字和混合
具有6.4G速度测试能力的Sapphire S测试系统
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:自动测试设备。D-6436是一款高性能高通道密度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gb·ps的高速芯片。Sun公司将把该系统使用于其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一
江苏长电购买多台ASL1000测试系统
作者:暂无 来源:集成电路应用 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 江苏长电技术有限公司  公司  ASL1000  混合信号测试 
描述:江苏长电购买多台ASL1000测试系统
microtec购买多台Sapphire D-10测
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试系统  购买  渗透力  测试实验室  市场  有限公司  混合信号    视频  数字和  多媒体 
描述:系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台Sapphire^TM WD-10测试系统。该测试实验室将使用这些业界领先的测试系统测试多媒体音/视频数字
在MediaTek推动下多台Sapphire NP系
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: MediaTek公司  Sapphire  NP系统  测试系统  测试容量  DVD市场 
描述:在MediaTek推动下多台Sapphire NP系
推出新型测试系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 推出  Kalos  集成电路测试系统  Personal  系统公司  非挥发性存储器  测试能力  存储器件  软件工具  嵌入式  全兼容  硬件 
描述:生产用测试系统Kalos 2和工程测试系统Personal Kalos 2完全兼容。
Ikanos选择的Octet系统用于宽带数宇信号处理
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 宽带数字信号处理器  测试  Octet系统  Ikanos公司 
描述:Ikanos选择的Octet系统用于宽带数宇信号处理