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测试
分支机构
半导体材料
半导体行业
低功耗
吞吐量
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器件
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存储器件
Sapphire
半导体
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科利登公司
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根据【检索词:科利登系统有限公司】搜索到相关结果
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条
科
利
登
的QBIX选件为Sapphire测试平台提供先进的模
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试平台
测试能力
科
利
登
系统
公司
模拟
测试应用
数字电视
模数转换
音
视频
XDSL
描述:
科
利
登
系统
公司日前宣布:在Sapphire平台上采用四通道宽带集成收发选件(QBIX)能完成种类丰富的多种芯片的测试应用。这些测试包含数字电视,音/视频数模/模数转换,XDSL,中频,移动基带
科
利
登
公司把IMS Vanguard系列延伸增长快速的消费
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
消费电子
工程验证
优化设计
逻辑集成电路
测试
系统
软件工具
特性测试
工程实验室
实时处理
图形接口
描述:
科
利
登
公司把IMS Vanguard系列延伸增长快速的消费
为不断降低测试成本而创新——访
科
利
登
公司中国区总经理陈绪先生
作者:
胡芃
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
总经理
测试成本
中国
创新
描述:
为不断降低测试成本而创新——访
科
利
登
公司中国区总经理陈绪先生
科
利
登
新增端对端6.4Gbps高速芯片测试产品
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
芯片测试
高速
端对端
成本优势
测试选件
通道数量
参数分析
总线测试
IP技术
描述:
这些选件成为6.4Gbps的高速穿行总线测试的低成本解决方案。[第一段]
科
利
登
连续三年获得VLSI用户满意度调查ATE供应商排名第一
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
用户满意度调查
供应商
VLSI
ATE
测试解决方案
自动测试设备
2005年
LSI公司
半导体行业
加工设备
描述:
全球半导体行业从设计到产品的测试解决方案厂商——
科
利
登
系统
(纳斯达克挂牌为CMOS)宣布:根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高,并且在世界十佳
科
利
登
和Cadence合作验证加快良率诊断的新流程
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Cadence
验证
合作
科
利
登
系统
公司
诊断
测试平台
Test
测试覆盖率
测试向量
描述:
adence Encounter Diagnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据。在90nm或者更先进的工艺设计中,使用该诊断流程能增加测试覆盖率,提高缺陷定位速度。[第一段]
科
利
登
公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
MSVanguard系列
半导体行业
生产测试
逻辑集成电路
描述:
科
利
登
公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
科
利
登
展示降低测试成本和加快产品量产时间的解决方案:SEM
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
公司
中国市场
测试成本
量产时间
解决方案
ASL
3000RF
描述:
科
利
登
展示降低测试成本和加快产品量产时间的解决方案:SEM
科
利
登
和Cadence合力加快良率诊断的新流程
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利
登
(Credence)和Cadence共同努力,针对现在大部分良率要求很高的纳米设计,推出的解决方案提高了产品质量,加大了测试产能,加快了缺陷定位速度,从而最终缩短了量产上市时间。[第一段]
全球有超过150套的
科
利
登
的3.2Gbps测试设备用于高速
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
被全球10大主要客户所采用,这些客户有著名的fabless设计公司,测试承包商及IDM领导厂商。
科
利
登
D-3208高性能设备可用于多种应用中的产品特征分析及量产测试,包括HyperTransport
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