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失效分析
失效模式
供应商
图像叠加
测试
存储器件
器件
半导体材料
加工成本
半导体工业
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根据【检索词:新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率】搜索到相关结果
663
条
ATE巨头
科
利
登
掀起测试行业新高潮
作者:
Peter
Wu
Mike
Evon
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试平台
ATE
行业
科
利
登
公司
高潮
掀起
SEMI
中国市场
中国用户
总经理
描述:
采访记录。
Silicon Image购买了
科
利
登
Sapphire测试
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
电子器件
测试
系统
消费类
购买
科
利
登
系统
公司
gigabit
一代
测试解决方案
半导体工业
测试平台
有限公司
数据传输
供应商
存储器
代码
描述:
些解决方案用于强数宇媒体的数据传输和存储。
科
利
登
(Credence)与蔚华科技合并台湾业务
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Integration
合并
科技
科
利
登
系统
公司
业务
股份有限公司
测试解决方案
半导体行业
技术整合
测试设备
集中培训
台湾地区
供应商
人力
描述:
进一步致力于
科
利
登在台湾地区用户的支持。
科
利
登
市场动作频频备受全球业界瞩目
作者:
海菲
来源:
电子与封装
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
全球
市场
科
利
登
系统
公司
测试解决方案
半导体工业
描述:
世界半导体工业提供从
设计
到生产测试解决方案的领先供直商科
利
登
系统
公司近两个月来连续宣布三个市场动作,备受全球业界瞩目。[第一段]
科
利
登
新设工程培训中心,继续得到用户认可
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
培训中心
科
利
登
系统
公司
工程
认可
用户
自动测试仪器
半导体产品
SOC测试
首席执行官
工业大学
特性分析
混合信号
产业市场
测试设备
实践经验
中国
总裁
描述:
中国的支持力度。非常荣幸能向这所顶尖大学提供测试设备,让学生获得自动测试仪器领域的实践经验。”
科
利
登
(Credence)和Cadence合作验证加快良率
作者:
暂无
来源:
半导体行业
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Cadence
验证
合作
科
利
登
系统
公司
诊断
测试平台
Test
测试向量
捕获数
描述:
adence Encounter Diaqnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据,[第一段]
科
利
登
通过战略性收购扩充核心市场
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
市场
扩充
收购
公司
总经理
亚洲区
总裁
描述:
科
利
登
(Credence)公司日前在上海举办媒体答谢会,亚洲区营运总经理兼公司副总裁Mike Evon回顾了2000~2004年公司的发展状况。[第一段]
科
利
登
推出Sapphire—D10测试解决方案
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试解决方案
科
利
登
系统
公司
微控制器
混合信号
显示驱动
e系列
多功能
消费类
封装
描述:
科
利
登
系统
公司(Credence)日前宣布,推出Sapphire系列的新成员Sapphire-D10。该
系统
是一款创新、高产能、多功能的圆片和封装测试解决方案,特别为微控制器、无线基带、显示驱动
DA测试公司应用
科
利
登
Quartet One来提高测试能力
作者:
暂无
来源:
无线电工程
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
公司
DA测试公司
QuartetOne
SoC芯片
测试能力
描述:
DA测试公司应用
科
利
登
Quartet One来提高测试能力
科
利
登
完备失效分析实验室落户威盛
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
威盛电子股份有限公司
分析实验室
失效
完备
设计
公司
科
利
登
公司
台湾地区
特征分析
生产线
购买
描述:
科
利
登
公司日前宣布威盛电子股份有限公司成为台湾地区首家从
科
利
登
购买整套用于
设计
、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无生产线的芯片
设计
公司)。[第一段]
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