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Sun公司
科利登公司
systems公司
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条
科利登推出具有6．4G bps测试能力的Sapphires
作者：
暂无
来源：
电子元器件应用
年份：
2006
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
测试系统
测试能力
自动测试设备
科利登系统公司
Sun公司
4G
微处理器芯片
描述：
度的功能测试设备，它主要用于调试和测试超过6．4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
科利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
作者：
暂无
来源：
中国集成电路
年份：
2006
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
Sun公司
测试系统
自动测试设备
systems公司
微处理器芯片
高速芯片
科利登公司
高速接口
描述：
很多拥有高速接口的先进芯片，用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能，并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者：
暂无
来源：
半导体技术
年份：
2006
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
systems公司
Sun公司
测试系统
自动测试设备
微处理器芯片
SPARC
高速芯片
系统使用
描述：
开发。[第一段]
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