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Sapphire
失效分析
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3
条
科利登推出Sapphire-D10系统
作者：
暂无
来源：
中国集成电路
年份：
2005
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
Sapphire
D10系统
封装
测试
集成电路
科利登系统公司
描述：
高的并行能力。[第一段]
在MediaTek推动下多台科利登Sapphire NP系
作者：
暂无
来源：
电子与电脑
年份：
2004
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
MediaTek公司
Sapphire
NP系统
测试系统
测试容量
DVD市场
描述：
在MediaTek推动下多台科利登Sapphire NP系
科利登在2006年度SEMICON China展会上展出S
作者：
暂无
来源：
国外电子测量技术
年份：
2006
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
系统
科利登系统有限公司
SEMICON
China展会
Sapphire
D
10
失效分析
描述：
科利登系统有限公司（Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了2006年度SEMICON China展会。科利登在SEMICON China展会上详细介绍了以下产品：[第一段]
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