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科利登新推出的Sapphire D-40测试平台结合其MV
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试平台  测试能力  射频  RF  测试解决方案  Zigbee  半导体工业  WiMax  有限公司  测试选件 
描述:pphire D系列的测试能力。[第一段]