检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(1)
按栏目分组
历史名人
(1)
按年份分组
2006
(1)
按来源分组
中国集成电路
(1)
相关搜索词
首页
>
根据【关键词:高速接口】搜索到相关结果
1
条
科利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
作者：
暂无
来源：
中国集成电路
年份：
2006
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
Sun公司
测试系统
自动测试设备
systems公司
微处理器芯片
高速芯片
科利登公司
高速接口
描述：
很多拥有高速接口的先进芯片，用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能，并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
首页
上一页
1
下一页
尾页