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科利登展示降低测试成本和加快产品量产时间的解决方案:SEM
作者:暂无 来源:集成电路应用 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统公司  中国市场  测试成本  量产时间  解决方案  ASL  3000RF 
描述:科利登展示降低测试成本和加快产品量产时间的解决方案:SEM
新型科利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 成品率  掩模  测试解决方案  系统定位  集成电路  量产时间  物理分析  供应商  问题  产品 
描述:正,从而降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
科利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率问题
作者:暂无 来源:今日电子 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 成品率  步进扫描  图像叠加  掩模  系统定位  集成电路  量产时间  问题  产品  加工成本 
描述:效和稳固。GlobalScan-Ⅰ支持多种物镜选件,采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。