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失效分析
加工成本
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条
新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者：
暂无
来源：
电子与电脑
年份：
2004
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
系统定位
成品率
失效分析
激光扫描显微镜
软件设计
长工作距离
新型集成电路
切换系统
调试方法
工艺性能
描述：
新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
作者：
暂无
来源：
电子测试(新电子)
年份：
2005
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
集成电路
掩模
量产时间
诊断系统
测试
调试方法
降低
产品
加工成本
遗漏
描述：
科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源，从而实现快速的设计修正，降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
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