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Verity系统
图形调试
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条
科利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
作者：
暂无
来源：
中国集成电路
年份：
2003
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
科利登系统公司
设计纠错
验证
Verity系统
芯片
描述：
科利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
科利登推出注重
芯片
成本的高量产测试系统
作者：
暂无
来源：
电子设计应用
年份：
2005
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
科利登公司
芯片
成本控制
封装测试系统
D—10系统
图形调试
描述：
科利登推出注重
芯片
成本的高量产测试系统
科利登sapphire D-10测试系统销往欧洲领先的测试
作者：
暂无
来源：
电子元器件应用
年份：
2006
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
测试实验室
测试系统
欧洲
混合信号
多媒体
高电压
芯片
视频
描述：
信号
芯片
，以及一些工业上应用的高电压
芯片
。[第一段]
科利登在IC China 2005展出注重
芯片
成本的高量产
作者：
暂无
来源：
半导体技术
年份：
2005
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
China
测试系统
IC
成本
科利登系统公司
芯片
市场需求
多功能
描述：
为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求，科利登系统公司在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China 2005展出Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10系统。Sapphire D-10是一款创新的高产能多功能的圆片和封装测试系统，[第一段]
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