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首页>根据【关键词:自动测试设备】搜索到相关结果3条

科利登推出具有6．4G bps测试能力的Sapphires: 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 测试系统测试能力自动测试设备科利登系统公司 Sun公司 4G 微处理器芯片; 描述：度的功能测试设备，它主要用于调试和测试超过6．4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]

科利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用: 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： Sun公司测试系统自动测试设备 systems公司微处理器芯片高速芯片科利登公司高速接口; 描述：很多拥有高速接口的先进芯片，用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能，并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。

科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： systems公司 Sun公司测试系统自动测试设备微处理器芯片 SPARC 高速芯片系统使用; 描述：开发。[第一段]

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