江西临川文化特色文献库

检索结果相关分组

按文献类别分组: 期刊文章(8)

按栏目分组: 历史名人 (8)

按年份分组: 2006(3); 2005(1); 2004(2); 2003(2)

按来源分组: 半导体技术(2); 电子与电脑(1); 集成电路应用(1); 电子工业专用设备(1); 中国集成电路(1); 电子元器件应用(1); 今日电子(1)

相关搜索词

首页>根据【关键词:自动测试设备】搜索到相关结果2条

科利登在VLSI关于测试与材料加工设备公司的用户满意度调查: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登公司 VLSI公司用户满意度自动测试设备; 描述：科利登在VLSI关于测试与材料加工设备公司的用户满意度调查

科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： systems公司 Sun公司测试系统自动测试设备微处理器芯片 SPARC 高速芯片系统使用; 描述：开发。[第一段]

首页上一页 1 下一页尾页