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科利登推出具有6.4G bps测试能力的Sapphires
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试系统  测试能力  自动测试设备  科利登系统公司  Sun公司  4G  微处理器芯片 
描述:度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
服务测试领域 满足客户需求:访科利登系统公司首席执行官Da
作者:Dave Ranhoff  来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统公司  首席执行官  服务测试  客户需求  测试解决方案  全球范围  技术人员  设备制造商  科利登公司  工业设计 
描述:科利登系统公司首席执行官Dave Ranhoff先生。[第一段]
丁辉文 十年风雨 SEMI中国“芯”路程
作者:赵明华  来源:半导体行业 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: SEMI  科利登系统公司  路程  风雨  硕士学位  加州大学  拉斯维加斯  内华达州  工作经历  化学系 
描述:总裁。历史为丁辉文的人生翻开了崭新的一页,开始了他在中国的"芯"历程。弹指一挥间,在丁辉文领导之下的两年光阴里,SEMI中国正以一个"勃勃生机"并以他们主办的"SEMICONChina2006"盛会受世人瞩目。